[發明專利]一種片式熱敏電阻器及其制造方法有效
| 申請號: | 201210261091.5 | 申請日: | 2012-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN102800449A | 公開(公告)日: | 2012-11-28 |
| 發明(設計)人: | 陳杏良 | 申請(專利權)人: | 東莞市東思電子技術有限公司 |
| 主分類號: | H01C7/02 | 分類號: | H01C7/02;H01C7/04;H01C1/14 |
| 代理公司: | 東莞市華南專利商標事務所有限公司 44215 | 代理人: | 李玉平 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞市大朗鎮碧水天源*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 熱敏 電阻器 及其 制造 方法 | ||
1.一種片式熱敏電阻器,包括基片,其特征在于:基片的上端面設有底層電極,底層電極的上端面設有熱敏電阻層,熱敏電阻層的上端面的兩側分別設有上層電極,所述熱敏電阻層的上端面的中部設有保護層,且保護層位于兩側的上層電極的中間。
2.根據權利要求1所述的一種片式熱敏電阻器,其特征在于:基片采用絕緣陶瓷基片。
3.一種如權利要求1或2所述的片式熱敏電阻器的制造方法,其特征在于:其包括以下步驟:
步驟1:運用厚膜成膜技術或薄膜成膜技術,在基片上形成底層電極;
步驟2:運用薄膜成膜技術,在底層電極的上面,形成熱敏電阻層;使用薄膜沉積工藝,將錳、鈷、鎳、銅、鐵、銀中的一種或其中幾種的合金,沉積在底層電極上,形成熱敏電阻層半成品;再將該半成品放入300至500℃的熱處理箱中進行熱處理,以形成具有電阻功能的熱敏電阻層;
步驟3:使用薄膜沉積工藝,將金、鈀、鉑、銀中的一種或其中幾種的合金,分別沉積在熱敏電阻層上端面的兩側上,并形成上層電極;
步驟4:運用厚膜成膜技術或薄膜成膜技術,在熱敏電阻層的上端面中間形成保護層,且保護層位于兩側的上層電極之間;其中保護層的材料是樹脂體系或硅的化合物體系。
4.根據權利要求3所述的一種片式熱敏電阻器的制造方法,其特征在于:步驟1之前還有:
步驟0:在基片上設置橫向劃槽和縱向劃槽,橫向劃槽和縱向劃槽將基片分隔成形狀、大小相同的基片單體;
步驟4之后還有:
步驟5:沿著基片上的橫向劃槽和縱向劃槽,將步驟5的產品分割成多個片式熱敏電阻器單體。
5.根據權利要求3所述的一種片式熱敏電阻器的制造方法,其特征在于:步驟5后還有:
步驟6:對片式熱敏電阻器單體進行性能測試,分選,包裝,入庫。
6.根據權利要求3所述的一種片式熱敏電阻器的制造方法,其特征在于:在步驟1采用厚膜成膜技術時,使用絲網印刷的方式,將金、鈀、鉑、銀中的一種或其中幾種的合金的導體漿料印刷在基片上,形成底層電極半成品;再將該半成品放入850℃高溫爐中烘烤,以形成具有導體功能膜層的底層電極。
7.根據權利要求3所述的一種片式熱敏電阻器的制造方法,其特征在于:在步驟1采用薄膜成膜技術時,使用薄膜沉積工藝,將金、鈀、鉑、銀中的一種或其中幾種的合金,或是將鎳、鉻中的一種或其合金,沉積在基片上形成具有導體功能膜層的底層電極。
8.根據權利要求6或7所述的一種片式熱敏電阻器的制造方法,其特征在于:在進行步驟1后,還需要進行:
步驟1.1:采用半導體工藝的光刻掩膜濕法蝕刻法、印刷掩膜濺射法、機械掩膜濺射法中的任何一種對底層電極進行圖形化。
9.根據權利要求3所述的一種片式熱敏電阻器的制造方法,其特征在于:步驟4使用厚膜成膜技術,保護層采用樹脂體系材料,使用絲網印刷的方式,將樹脂體系的漿料印刷在熱敏電阻層兩側的上層電極之間,形成保護層半成品;再將該半成品放入200℃低溫固化爐或固化箱中,進行低溫固化,以形成具有保護功能的保護層。
10.根據權利要求3所述的一種片式熱敏電阻器的制造方法,其特征在于:步驟4使用薄膜成膜技術,保護層的材料為硅的化合物,使用薄膜沉積工藝,將硅的化合物沉積在熱敏電阻層上形成具有保護功能的保護層。
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