[發明專利]大口徑碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制方法、系統

無效

• 申請號: 201210256096.9
• 申請日: 2012-07-23
• 公開（公告）號: CN102749060A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 馬迎召;譚新華;朱楷;劉帥;黨安旺
• 申請（專利權）人: 湘電集團有限公司
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20;G01M11/02;G05D3/12
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 魏曉波

1.一種大口徑碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制方法，其特征在于，包括如下步驟：

1)確定所述拋物曲面反射鏡的數學模型；

2)預設本次測量參數，根據所述數學模型和所述預設參數獲取所述拋物曲面反射鏡的理想三維模型，并獲取所述三維模型中采樣點的理想坐標；

3)檢測所述拋物曲面反射鏡在所述采樣點的實際坐標；

4)根據所述采樣點的實際坐標重構所述拋物曲面反射鏡的實際三維模型，分析所述理想三維模型和所述實際三維模型，獲取所述拋物曲面反射鏡的曲面精度。

2.根據權利要求1所述的大口徑碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制方法，其特征在于，所述步驟2)中以坐標系中的水平坐標為基準，具體檢測X軸實際坐標、Y軸實際坐標與理想坐標均相同的采樣點所對應的Z軸實際坐標，以獲取所述采樣點的實際坐標。

3.根據權利要求2所述的大口徑碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制方法，其特征在于，所述步驟2)中采用傳感器檢測所述拋物曲面反射鏡在所述采樣點的實際坐標。

4.根據權利要求1-3任一項所述的大口徑碟式拋物面反射鏡的檢測控制方法，其特征在于，所述步驟4)之后還包括步驟：

5)根據所述檢測結果發出控制指令，將所述拋物曲面反射鏡的所述采樣點的實際坐標調整至所述采樣點的理想坐標。

5.根據權利要求4所述的大口徑碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制方法，其特征在于，執行所述步驟5)后，返回執行所述步驟2)。

6.一種大口徑碟式拋物面反射鏡的檢測控制系統，其特征在于，包括：

上位機(1)，用于根據所述拋物曲面反射鏡的數學模型和預設的本次測量參數獲取所述拋物曲面反射鏡的理想三維模型，并獲取所述三維模型中采樣點的理想坐標；

下位機(2)，與所述上位機(1)通信連接，用于檢測并輸出所述拋物曲面反射鏡在所述采樣點的實際坐標；

所述上位機(1)還用于根據所述下位機(2)的檢測結果重構所述拋物曲面反射鏡的實際三維模型，分析所述理想三維模型和所述實際三維模型，獲取所述拋物曲面反射鏡的曲面精度。

7.根據權利要求6所述的碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制系統，其特征在于，所述下位機(2)具體用于檢測X軸實際坐標、Y軸實際坐標與理想坐標均相同的采樣點所對應的Z軸實際坐標，以獲取所述采樣點的實際坐標。

8.根據權利要求7所述的碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制系統，其特征在于，所述下位機(2)在所述拋物曲面反射鏡中部設有水平延長桿(21)，所述延長桿(21)上設有用于檢測所述采樣點的實際坐標的傳感器(25)；所述下位機(2)還設有控制所述延長桿(21)高度的升降機構(22)，控制所述延長桿(21)角度的旋轉機構(23)，以及控制所述延長桿(21)長度的伸縮機構(24)。

9.根據權利要求6-8任一項所述的碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制系統，其特征在于，還包括：

與所述上位機(1)連接的驅動系統，用于在所述上位機(1)的控制指令下調整所述拋物曲面反射鏡的所述采樣點的實際坐標值所述采樣點的理想坐標。

10.根據權利要求9所述的碟式拋物曲面反射鏡的檢測控制系統，其特征在于，所述檢測控制系統為閉環控制系統。