[發(fā)明專利]低信噪比區(qū)淺層波阻抗界面靜校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210250398.5 | 申請日: | 2012-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN103576200B | 公開(公告)日: | 2018-11-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 寧宏曉;王海立;章多榮;馬立新;于寶華 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油天然氣集團(tuán)公司;中國石油集團(tuán)東方地球物理勘探有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01V1/36 | 分類號: | G01V1/36 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 湯在彥 |
| 地址: | 100007 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 低信噪 區(qū)淺層波 阻抗 界面 校正 方法 | ||
本發(fā)明是低信噪比區(qū)淺層波阻抗界面靜校正方法,先利用波阻抗界面的深度信息建立表層模型計(jì)算標(biāo)志層基準(zhǔn)面靜校正量,解決低頻靜校正問題;然后在此基礎(chǔ)上利用波阻抗界面遠(yuǎn)偏移距折射波初至信息,計(jì)算折射波剩余靜校正量,消除大的高頻剩余靜校正量影響,使波阻抗界面信噪比提高;最后針對波阻抗界面反射波信息,計(jì)算反射波剩余靜校正量,消除小的高頻剩余靜校正量影響。本發(fā)明充分利用了淺層強(qiáng)波阻抗界面的深度信息、折射信息、反射信息,低頻與高頻兼顧,可較好地解決了低信噪比地區(qū)靜校正問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及石油地球物理勘探技術(shù),具體是針對低信噪比區(qū)淺層波阻抗界面靜校正方法。
背景技術(shù)
沙漠、山地等復(fù)雜地表區(qū),地表起伏大,結(jié)構(gòu)疏松、表層巖性變化劇烈,低降速帶巨厚達(dá)幾百米以上,地表?xiàng)l件極為復(fù)雜。地形高差和低降速帶的劇烈變化造成了地表結(jié)構(gòu)嚴(yán)重的不均一性,使得地震波畸變嚴(yán)重、地震反射資料不能準(zhǔn)確成像、地下構(gòu)造發(fā)生扭曲,導(dǎo)致靜校正問題非常突出,是地震資料處理中的難題。
在地表?xiàng)l件復(fù)雜的富油區(qū),隨著勘探程度越來越高,對靜校正精度提出了更高的要求。從以往靜校正處理情況來看,一些成熟的靜校正技術(shù)(模型法、初至折射法、層析反演法)的應(yīng)用,為解剖復(fù)雜地區(qū)構(gòu)造特征,打開復(fù)雜區(qū)油氣勘探局面發(fā)揮了一定的作用。但是,復(fù)雜地表低信噪比區(qū)靜校正工作也還存在一些問題,主要表現(xiàn)在以下方面:1、表層巨厚和多變,無法找到穩(wěn)定的高速頂界面,使得表層模型難以準(zhǔn)確建立,基準(zhǔn)面靜校正精度不高。2、低信噪比與靜校正問題相互制約,使得靜校正應(yīng)用效果的監(jiān)控特別困難。3、反射信息信噪比低,無法充分發(fā)揮室內(nèi)剩余靜校正的優(yōu)勢。這些存在的問題使常規(guī)靜校正方法無法有效滿足低信噪比區(qū)地震資料處理的需要。
另外,上述常規(guī)的靜校正方法只采用了地震資料的部分信息,如初至、表層調(diào)查等,遠(yuǎn)偏移距的信息沒有有效利用。從靜校正技術(shù)需求上講,需要一個(gè)相對穩(wěn)定、有一定信噪比的界面,滿足建模與靜校正效果監(jiān)控的要求,以及室內(nèi)剩余靜校正優(yōu)勢的發(fā)揮。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,提供一種基準(zhǔn)面靜校正精度高,靜校正應(yīng)用效果可以監(jiān)視,反射信息信噪比高的低信噪比區(qū)淺層波阻抗界面靜校正方法。
本發(fā)明通過以下步驟實(shí)現(xiàn):
1)對探區(qū)進(jìn)行表層調(diào)查和地震勘探,或利用已取得的探區(qū)域地震疊加剖面,表層調(diào)查信息資料,確定淺層存在強(qiáng)波阻抗界面;
2)應(yīng)用初至層析反演出近地表速度場,標(biāo)定淺層波阻抗界面在層析反演速度場上對應(yīng)的速度界面,建立近地表模型;
3)將淺層波阻抗界面作為地下模型界面計(jì)算基準(zhǔn)面靜校正,消除由于近地表起伏和低、降速帶引起的中、長波長靜校正量,校正后的地震記錄中以中、短波長靜校正量為主;
基準(zhǔn)面靜校正量計(jì)算采用以下公式:
式中:td為炮點(diǎn)或檢波點(diǎn)基準(zhǔn)面靜校正量;Helv為地表高程;hbzc為淺層波阻抗界面高程,Hd最終基準(zhǔn)面高程;v0為波阻抗界面以上平均速度;v為填充速度;
4)利用基準(zhǔn)面校正后得到淺層波阻抗界面的折射初至信息計(jì)算折射波剩余靜校正,使波阻抗界面在地震剖面上信噪比提高到可以統(tǒng)計(jì)計(jì)算反射波剩余校正量;
5)利用波阻抗界面反射波信息計(jì)算各炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)的反射波剩余靜校正量,消除殘留的短波長靜校正量。
本發(fā)明充分利用了淺層強(qiáng)波阻抗界面的深度信息、折射信息、反射信息,低頻與高頻兼顧,較好地解決了低信噪比地區(qū)靜校正問題,消除大的高頻剩余靜校正量影響,使剖面上波阻抗界面信噪比提高,針對波阻抗界面反射波信息,計(jì)算反射波剩余靜校正量,可消除小的高頻剩余靜校正量影響。
附圖說明
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國石油天然氣集團(tuán)公司;中國石油集團(tuán)東方地球物理勘探有限責(zé)任公司,未經(jīng)中國石油天然氣集團(tuán)公司;中國石油集團(tuán)東方地球物理勘探有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210250398.5/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:襯芯自動檢測裝置
- 下一篇:一種消除速度誤差影響的震源定位方法





