[發明專利]一種基于雷達圖的教育測評數據處理方法及系統

無效

• 申請號: 201210247672.3
• 申請日: 2012-07-11
• 公開（公告）號: CN102799970A
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 黃偉;羅宇龍
• 申請（專利權）人: 深圳市海云天教育測評有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/20
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268
• 代理人: 劉文求

技術領域

本發明涉及教育測評技術領域，尤其涉及一種基于雷達圖的教育測評數據處理方法及系統。

背景技術

考試是考查對學生所掌握的知識和技能情況的評價手段，尤其是對于一些選拔性的考試來說，學生的得分對于其最終的選拔結果有著重要的影響，其微小的差別有可能影響學生的一生，但目前的狀況是選拔者一般都只關注學生的各科得分情況，如果兩學生的各科總分相同或差不多，則無法對學生的綜合情況進行評價，因而在一些競爭激烈或有特殊要求的測試中，無法獲得對學生的綜合情況進行一個較公正的評價。

因此，現有技術還有待于改進和發展。

發明內容

鑒于上述現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種基于雷達圖的教育測評數據處理方法及系統，旨在解決現有教育測評數據處理方法在總分相同或相近的情況下無法對學生的成績進行有效評價的問題。

本發明的技術方案如下：

一種基于雷達圖的教育測評數據處理方法，其中，包括以下步驟：

A、預先存儲成績雷達圖的面積與用于評價學生成績的評價數據的對應關系；

B、錄入學生的各個考試科目的分數，根據所述各個考試科目的分數生成學生的成績雷達圖；

C、根據所述成績雷達圖自動計算所述成績雷達圖的面積；

D、根據所述成績雷達圖輸出與該成績雷達圖對應的評價數據。

所述的基于雷達圖的教育測評數據處理方法，其中，所述步驟B包括：

按照考試科目的分數高低調整所述成績雷達圖上考試科目的排列順序。

所述的基于雷達圖的教育測評數據處理方法，其中，所述排列順序滿足：相鄰考試科目的分數之差小于相隔兩考試科目的分數之差。

所述的基于雷達圖的教育測評數據處理方法，其中，所述步驟B包括：

根據考試科目的相關性調節所述成績雷達圖上相鄰考試科目之間的夾角。

所述的基于雷達圖的教育測評數據處理方法，其中，所述考試科目之間的夾角滿足：相關性大的相鄰考試科目之間的夾角小于相關性小的相鄰考試科目之間的夾角。

所述的基于雷達圖的教育測評數據處理方法，其中，當學生的考試科目數量為n時，所述成績雷達圖的面積S為其中s_n+1＝s₁，其中S_i為第i門考試科目的分數。

一種基于雷達圖的教育測評數據處理系統，其中，其包括：

數據存儲模塊，用于預先存儲成績雷達圖的面積與用于評價學生成績的評價數據的對應關系；

成績雷達圖生成模塊，用于錄入學生的各個考試科目的分數，根據所述各個考試科目的分數生成學生的成績雷達圖；

雷達圖面積計算模塊，用于根據所述成績雷達圖自動計算所述成績雷達圖的面積；

評價數據生成模塊，用于根據所述成績雷達圖輸出與該成績雷達圖對應的評價數據。

所述的基于雷達圖的教育測評數據處理系統，其中，所述成績雷達圖生成模塊包括一調序模塊，用于按照考試科目的分數高低調整所述成績雷達圖上考試科目的排列順序。

所述的基于雷達圖的教育測評數據處理系統，其中，所述成績雷達圖生成模塊還包括一夾角調節模塊，用于根據考試科目的相關性調節所述成績雷達圖上相鄰考試科目之間的夾角。

有益效果：本發明在常用雷達圖上做出改進，通過測試方(例如招生單位，考核評估人員)錄入考核要求、關注側重點，針對性地檢驗被測試方(學生，應聘人員等)與招生單位相匹配的能力，給出更為客觀，有效的評價。另外，通過對各變量相關矩陣參數指導下的成績雷達圖變量間夾角的分配，減小具有相關性變量間的影響，對學生給出更為客觀的整體評價。

附圖說明

圖1為本發明基于雷達圖的教育測評數據處理方法較佳實施例的流程圖。

圖2為本發明基于雷達圖的教育測評數據處理系統較佳實施例的結構框圖。

圖3為圖2所示系統中成績雷達圖生成模塊的具體結構框圖。

圖4為本發明中成績雷達圖一個實施例的示意圖。

具體實施方式

本發明提供一種基于雷達圖的教育測評數據處理方法及系統，為使本發明的目的、技術方案及效果更加清楚、明確，以下對本發明進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。

本發明提供一種基于雷達圖的教育測評數據處理方法，如圖1所示，包括以下步驟：