[發明專利]一種帶材厚度測量裝置

有效

• 申請號: 201210239908.9
• 申請日: 2012-07-12
• 公開（公告）號: CN102749049A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 孫紅剛;湯昌東;胡兵;莫云龍;劉建新
• 申請（專利權）人: 安徽精誠銅業股份有限公司
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02
• 代理公司: 蕪湖安匯知識產權代理有限公司 34107
• 代理人: 蔣光恩

技術領域

本發明屬于帶材生產技術領域，更具體地說，是涉及一種帶材厚度測量裝置。

背景技術

現有技術中，對高精度帶材進行厚度測量的方法，為接觸式測量和非接觸式脈沖渦流測量，接觸式測量由于機械機構復雜，測量距離受限，僅能在帶材邊沿部位進行單點測量，對于較寬的帶材，不能有效的反應整個寬度的帶材厚度，以此同時，通過現有的裝置進行測量，測量時需要接觸到帶材表面才能測量，這樣，如果操作人員操作不當，會在帶材表面造成劃傷亮線等異?，F象，從而不能滿足對高精度帶材產品的生產要求。非接觸脈沖渦流測量由于其采用渦流測量原理，對鐵元素特別敏感，測量鐵含量高的產品，誤差較大，不能有效的反應帶材真實厚度，造成產品公差問題。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種能夠提高帶材厚度測量數據準確性，避免對帶材表面造成磨損的帶材厚度測量裝置。

要解決以上所述的技術問題，本發明采取的技術方案為：

本發明為一種帶材厚度測量裝置，所述的帶材厚度測量裝置包括裝置本體，裝置本體上設置延伸出裝置本體的伸出桿Ⅰ和伸出桿Ⅱ，所述的伸出桿Ⅰ和伸出桿Ⅱ上分別設置X射線接收裝置和X射線發射裝置，帶材設置為從伸出桿Ⅰ和伸出桿Ⅱ之間穿過的結構，所述的X射線接收裝置和X射線發射裝置分別與X射線控制開關連接，所述的裝置本體與顯示帶材厚度信息的信號處理計算機連接。

所述的裝置本體與變頻電機連接，變頻電機上設置多個通過變頻電機驅動的滾輪，滾輪卡裝在基座上的滾道內，變頻電機轉動時，裝置本體設置為通過滾輪帶動沿滾道方向移動的結構，變頻電機與電機控制開關連接。

所述伸出桿Ⅰ和伸出桿Ⅱ設置為平行布置的結構，伸出桿Ⅰ和伸出桿Ⅱ均設置為平行布置的結構，X射線發射裝置為X射線管，X射線接收裝置為電離室，X射線發射裝置為金屬陶瓷式射線管，X射線接收裝置內灌充惰性氣體，所述的裝置本體內設置測量變換器。

所述的X射線接收裝置設置為位于X射線發射裝置正上方的結構，所述的長方體狀的基座設置為與帶材運行方向垂直的結構。

所述的滾道包括兩道，分別為滾道Ⅰ和滾道Ⅱ，滾道Ⅰ和滾道Ⅱ內各卡裝兩個滾輪，滾道Ⅰ內的每個滾輪分別通過連接桿與滾道Ⅱ內的一個滾輪連接，變頻電機通過皮帶與連接桿上的連接齒連接。

采用本發明的技術方案，能得到以下的有益效果：

本發明的帶材厚度測量裝置，可以對任意寬度的帶材進行厚度測量工作，且可以對帶材表面的任何位置的厚度進行測量，能夠方便，真實地反映出帶材的厚度；本發明的帶材厚度測量裝置，測量時，厚度測量裝置避免與帶材表面進行接觸，不會給帶材表面造成劃傷及亮線等缺陷，從而保證了高精度帶材的表面質量，提高了帶材產品的檔次。

附圖說明

下面對本說明書各附圖所表達的內容及圖中的標記作出簡要的說明：

圖1為本發明所述的帶材厚度測量裝置的結構示意圖；

圖2為圖1所述的帶材厚度測量裝置的局部放大結構示意圖；

圖3為圖1所述的帶材厚度測量裝置的A—A面的剖視結構示意圖；

圖中標記為：1、裝置本體；2、伸出桿Ⅰ；3、伸出桿Ⅱ；4、X射線接收裝置；5、X射線發射裝置；6、X射線控制開關；7、變頻電機；8、滾輪；9、基座；10、滾道；11、電機控制開關；12、滾道Ⅰ；13、滾道Ⅱ；14、連接桿；15、皮帶；16、電離室；17、測量變換器；18、信號處理計算機；19、X射線。

具體實施方式

下面對照附圖，通過對實施例的描述，對本發明的具體實施方式如所涉及的各構件的形狀、構造、各部分之間的相互位置及連接關系、各部分的作用及工作原理等作進一步的詳細說明：

如附圖1——附圖3所示，本發明為一種帶材厚度測量裝置，所述的帶材厚度測量裝置包括裝置本體1，裝置本體1上設置延伸出裝置本體1的伸出桿Ⅰ2和伸出桿Ⅱ3，伸出桿Ⅰ2和伸出桿Ⅱ3上分別設置X射線接收裝置4和X射線發射裝置5，帶材6設置為從伸出桿Ⅰ2和伸出桿Ⅱ3之間穿過的結構，X射線接收裝置4和X射線發射裝置5分別與X射線控制開關6連接，所述的裝置本體1與顯示帶材厚度信息的信號處理計算機18連接。

所述的裝置本體1與變頻電機7連接，變頻電機7上設置多個通過變頻電機7驅動的滾輪8，滾輪8卡裝在基座9上的滾道10內，變頻電機7轉動時，裝置本體1設置為通過滾輪8帶動沿滾道10方向移動的結構，變頻電機7與電機控制開關11連接。