[發(fā)明專利]基材支撐單元和包括它的基材處理設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210216931.6 | 申請日: | 2012-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN102856242A | 公開(公告)日: | 2013-01-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李元行;李承培 | 申請(專利權(quán))人: | 細(xì)美事有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L21/00 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人: | 梁興龍;武玉琴 |
| 地址: | 韓國忠*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基材 支撐 單元 包括 處理 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基材支撐單元,更具體而言,涉及一種包括加熱器的基材支撐單元。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體制造設(shè)備包括在處理室中的用于支撐基材的支撐板。電熱絲設(shè)置在支撐板內(nèi),以將基材加熱到一定溫度。
這種電熱絲以螺旋圖案嵌入,彼此并連連接。在這種情況下,由于并聯(lián)的電熱絲的整個(gè)長度大于串聯(lián)的電熱絲,所以并聯(lián)的電熱絲可以更小的間隔排列。然而,由于并聯(lián)的電熱絲的整個(gè)長度大于串聯(lián)的電熱絲,所以并聯(lián)的電熱絲不適宜在小區(qū)域內(nèi)嵌入。此外,由于并聯(lián)的電熱絲朝向支撐板的邊緣延伸,所以其長度增加,其電阻也增加。因此,可能很難獲得所需量的熱量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用于均勻地處理基材的整個(gè)表面的設(shè)備。
本發(fā)明的實(shí)施例提供一種基材支撐單元,包括:在其上放置基材的支撐板;和設(shè)置在所述支撐板內(nèi)以加熱所述支撐板的加熱件,其中所述加熱件包括:設(shè)置在所述支撐板的第一區(qū)域中的多根第一電熱絲;和設(shè)置在所述支撐板的第二區(qū)域中的多根第二電熱絲,第二區(qū)域不同于第一區(qū)域,其中各第一電熱絲通過串聯(lián)和并聯(lián)中的一種彼此連接,和各第二電熱絲通過串聯(lián)和并聯(lián)中的另一種彼此連接。
在一些實(shí)施例中,各第一電熱絲可以彼此并聯(lián)連接,各第二電熱絲可以彼此串聯(lián)連接,和第二區(qū)域的面積可以小于第一區(qū)域的面積。
在其他實(shí)施例中,第一區(qū)域可以是所述支撐板的中央?yún)^(qū)域,和第二區(qū)域可以是所述支撐板的包圍所述中央?yún)^(qū)域的邊緣區(qū)域。
在其他實(shí)施例中,各第一電熱絲的長度可以大于各第二電熱絲的長度。
在其他實(shí)施例中,各第一電熱絲的長度可以彼此不同。
在本發(fā)明的其他實(shí)施例中,基材處理設(shè)備包括:具有內(nèi)部空間的處理室;設(shè)置在所述處理室內(nèi)以支撐基材的支撐板;和設(shè)置在所述支撐板內(nèi)以加熱所述支撐板的加熱件,其中所述加熱件包括:設(shè)置在所述支撐板的中央?yún)^(qū)域中的多根第一電熱絲;和設(shè)置在所述支撐板的包圍所述中央?yún)^(qū)域的邊緣區(qū)域中的多根第二電熱絲,其中各第一電熱絲通過串聯(lián)和并聯(lián)中的一種彼此連接,和各第二電熱絲通過串聯(lián)和并聯(lián)中的另一種彼此連接。
在一些實(shí)施例中,各第一電熱絲可以彼此并聯(lián)連接,各第二電熱絲可以彼此串聯(lián)連接,和所述邊緣區(qū)域的面積可以小于所述中央?yún)^(qū)域的面積。
在其他實(shí)施例中,各第一電熱絲的長度可以大于各第二電熱絲的長度。
在其他實(shí)施例中,各第一電熱絲的長度可以彼此不同。
附圖說明
附圖用于進(jìn)一步理解本發(fā)明,且被并入說明書中構(gòu)成說明書的一部分。附圖顯示本發(fā)明的示例性實(shí)施例,并且與說明書一起用于說明本發(fā)明的原理。在附圖中:
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的處理基材的設(shè)備的剖視圖;
圖2是示出圖1的電熱絲的平面圖;
圖3是示出圖1的電熱絲的立體圖;和
圖4是示出圖1的第一電熱絲的連接的電路圖。
具體實(shí)施方式
下面,參照附圖更詳細(xì)地說明根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的基材支撐單元和基材處理設(shè)備。為了避免不必要地混淆本發(fā)明的主題,未對與公知的功能或構(gòu)造有關(guān)的內(nèi)容進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的處理基材的設(shè)備的剖視圖。參照圖1,根據(jù)當(dāng)前實(shí)施例的基材處理設(shè)備10產(chǎn)生用于處理基材的等離子體。基材處理設(shè)備10包括處理室100、基材支撐單元200、供氣部300和等離子體產(chǎn)生部400。
處理室100具有內(nèi)部空間101。內(nèi)部空間101作為用于使用等離子體處理基材W的空間。基材W的等離子體處理工藝包括蝕刻工藝。排出孔102設(shè)置在處理室100的底部。排出孔102與排出管線121連接。處理室100內(nèi)停留的氣體和在基材處理工藝中產(chǎn)生的反應(yīng)副產(chǎn)物可以通過排出管線121排出。此時(shí),內(nèi)部空間101的壓力降低到一定壓力。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





