[發明專利]微推力與微沖量的直接標定方法

有效

• 申請號: 201210215502.7
• 申請日: 2012-06-27
• 公開（公告）號: CN102721456A
• 公開（公告）日: 2012-10-10
• 發明（設計）人: 何振;張代賢;吳建軍;張銳;劉澤軍;張帆;魯高飛
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍國防科學技術大學
• 主分類號: G01G23/01
• 分類號: G01G23/01
• 代理公司: 湖南省國防科技工業局專利中心 43102
• 代理人: 馮青

1.一種微推力與微沖量的直接標定方法，其特征在于，利用帶氣隙的環形電磁鐵2氣隙中磁感應強度分布均勻且漏磁很小的特點，將載流導線穿過氣隙，導線將受到安培力的作用，已知該安培力的大小和作用時間，即可進行微推力和微沖量標定，

進行微推力標定時，首先，利用高精度電子秤測量受力線圈（1）載流時在環形電磁鐵（2）恒定的氣隙磁場作用下所受安培力，根據測量數據獲得受力線圈（1）電流與安培力的線性關系；然后，將受力線圈（1）安裝在測量裝置的受力點，如扭擺橫梁(3)上，調整好環形電磁鐵(2)的位置并保持氣隙磁場不變，使受力線圈(1)的安培力方向為需要標定的推力方向；最后，根據受力線圈的電流與安培力的線性關系，獲得扭擺橫梁受力與扭轉角度之間的對應關系，從而實現微推力的標定；

進行微沖量標定時，給受力線圈(1)加載一已知大小和脈寬的脈沖電流，利用已標定出的受力線圈電流與安培力的線性關系,得出安培力的沖量大小，輸入不同的脈沖電流即可得到不同沖量，測得不同沖量與扭擺橫梁響應之間的關系,即可實現微沖量標定。

2.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，環形電磁鐵（2）也可用永磁鐵代替，該永磁鐵帶氣隙，且其氣隙區域的磁場分布應與環形電磁鐵（2）類似。

3.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，環形電磁鐵的氣隙寬度窄，氣隙之中的磁場分布均勻，磁芯和氣隙之外漏磁小。

4.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，環形電磁鐵磁芯由剩磁小的軟磁材料組成，環形電磁鐵線圈在通同樣大小的穩恒電流時，氣隙中磁場分布和磁感應強度相同。

5.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，在標定微推力與微沖量過程中，受力線圈（1）與環形電磁鐵(2)的位置可以互換。