[發明專利]具有超晶格結構的太陽能電池及其制備方法有效
| 申請號: | 201210203843.2 | 申請日: | 2012-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN102738267A | 公開(公告)日: | 2012-10-17 |
| 發明(設計)人: | 鄭新和;李雪飛;張東炎;吳淵淵;陸書龍;楊輝 | 申請(專利權)人: | 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所 |
| 主分類號: | H01L31/0352 | 分類號: | H01L31/0352;H01L31/077;H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 孫佳胤;翟羽 |
| 地址: | 215125 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 晶格 結構 太陽能電池 及其 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及太陽能電池領域,尤其涉及具有超晶格結構的太陽能電池及其制備方法。
背景技術
由于太陽能取之不盡,是傳統化石能源的有效替代者,太陽電池的研究越來越深入。在太陽電池領域,目前GaInP/GaAs多結電池已成功應用于空間光伏領域,又因為其最高效率而成為地面高倍聚光應用的優秀代表,另外可與Ge形成三結電池可使效率得到進一步提升。但Ge的帶隙(0.7eV)?不是三結電池中最合適的。如果能制備出0.8~1.4eV的太陽電池,且與GaAs或Ge襯底晶格匹配,轉換效率將顯著提升,而且可以結合Ge構成四結及四結以上獲得超高效率的晶格匹配電池。
近年來具有反常帶隙彎曲的窄禁帶InAsN,InGaAsN,GaNP和GaNAsP材料受到了重視。人們發現增加了少量氮的砷化鎵其帶隙不是預期的增加,反而產生了相反的效果,從而導致帶隙迅速減小,不是預期的藍移,而是紅移,這種不尋常的行為引起了相當大的興趣,人們認為這是材料物理學上一個新的觀點以及存在潛在的應用空間,這些新化合物被稱為稀氮化物。稀氮化物已擺脫傳統的III-V族半導體,當氮插入到五族元素的晶格,對材料的性能產生了深遠影響,并允許能帶工程進一步發展。在常規的GaAs和InP基III-V族化合物中只加入少量的氮(小于5%),結果可以造成非常大的能帶彎曲,這形成了許多有趣的微電子和光電應用。除了能帶彎曲,少量的氮也導致帶結構的改變,只有0.5%的氮,GaP帶隙產生從間接到直接的變化,且在650nm紅光范圍具有很強的發光。
現已有研究者制備出帶隙為1eV的GaInNAs太陽電池,如圖1,包括襯底層101,以及在襯底層101上依次設置的緩沖層102、背場層103、第一GaAs層104、第二GaAs層105和接觸層106,但該GaInNAs太陽電池電流密度和開路電壓仍較低,轉換效率也不高。采用GaInNAs四元體系的體材料,由于In、N共存生長,容易產生應變與組分起伏,降低少子壽命,遷移率也不高,吸收光子所產生的電子-空穴對在被收集之前就已經復合,限制了電流輸出,轉換效率的提升有限。雖有通過In、N分離的超晶格和量子阱來獲得該帶隙的太陽能電池,但由于是單一壘層厚度的超晶格,當獲得足夠厚的有源區時易產生失配位錯,最終影響電池的性能。于是,研究人員試圖尋找其他有效方法突破這個技術難關。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是,提供具有超晶格結構的太陽能電池及其制備方法。
為了解決上述問題,本發明提供了一種具有超晶格結構的太陽能電池,包括第一GaAs層和有源區,所述有源區置于第一GaAs層的裸露表面上,所述有源區包括第一、第二GaNAs/InGaAs超晶格結構,所述第二GaNAs/InGaAs超晶格結構設置于第一GaNAs/InGaAs超晶格結構表面,且所述第一、第二GaNAs/InGaAs超晶格結構中的InGaAs層厚度不同。
所述具有超晶格結構的太陽能電池,進一步包括GaAs電池和GaAs緩沖層,所述GaAs電池置于GaAs緩沖層的裸露表面上,所述GaAs電池包括依次設置的AlGaAs背場層、第一GaAs層、有源區、第二GaAs層和AlGaAs窗口層,其中第一GaAs層的導電摻雜類型與第二GaAs層的導電摻雜類型相反。
所述具有超晶格結構的太陽能電池,進一步包括Ge或GaAs的襯底層,以及包括依次在Ge或GaAs的襯底層上設置的GaAs緩沖層、GaAs電池和GaAs接觸層。
所述第一、第二GaNAs/InGaAs超晶格結構的周期范圍分別為1納米至10納米。
為了解決上述問題,本發明還提供了一種具有超晶格結構的太陽能電池的制備方法,包括步驟:3)在第一GaAs層裸露表面生長有源區,
所述步驟3)進一步包括步驟:
31)在第一GaAs層表面生長第一GaNAs/InGaAs超晶格結構;
32)在第一GaNAs/InGaAs超晶格結構表面生長第二GaNAs/InGaAs超晶格結構;
其中,所述兩種GaNAs/InGaAs超晶格結構中的InGaAs層厚度不同。
所述步驟3)之前進一步包括步驟:
1)在GaAs緩沖層的裸露表面生長AlGaAs背場層;
2)在AlGaAs背場層表面生長第一GaAs層;
所述步驟3)之后進一步包括步驟:?????4)在有源區表面生長第二GaAs層;
5)在第二GaAs層表面生長AlGaAs窗口層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





