[發明專利]一種利用直流可控中子源計算地層密度的測井方法

有效

• 申請號: 201210201985.5
• 申請日: 2012-06-19
• 公開（公告）號: CN103513287A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 王新光
• 申請（專利權）人: 王新光
• 主分類號: G01V5/10
• 分類號: G01V5/10;G01N9/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種利用直流可控中子源計算地層密度的測井方法，其特征在于，利用直流可控中子源和多探測器系統，記錄不同位置處的中子計數和伽馬能譜，實現地層密度的獲取。

2.根據權利要求1所述的利用直流可控中子源計算地層密度的測井方法，其特征在于，所述直流可控中子源采用D-D中子源，直流工作方式。

3.根據權利要求1所述的利用直流可控中子源計算地層密度的測井方法，其特征在于，兩個熱中子探測器和三個伽馬探測器；所述的熱中子探測器采用He-3正比計數器；所述的伽馬探測器采用的是NaI晶體探測器；所述的多探測器系統的排列順序是，沿離開中子源位置的方向，依次是近源距伽馬探測器、近源距中子探測器、遠源距中子探測器、遠源距伽馬探測器以及超遠源距本底伽馬探測器；所述的探測器長度分別為，近源距伽馬探測器NaI晶體長度50～100mm，近源距中子探測器長度為100～200mm，遠源距中子探測器長度為100～200mm，遠源距伽馬探測器NaI晶體長度為50～100mm，超遠源距伽馬探測器NaI晶體長度50～100mm；所述各探測器源距分別為：近伽馬探測器源距(晶體中心位置到中子源靶的距離)為285～385mm，近中子探測器源距(中子探測器中心位置到中子源靶的距離)為360～505mm，遠中子探測器源距為570～745mm，遠伽馬探測器源距為675～865mm，超遠伽馬探測器源距為1000～1200mm。

4.根據權利要求1所述的利用直流可控中子源計算地層密度的測井方法，其特征在于，所述計算地層密度方法，其特征在于，采用如下的步驟：

①在未知密度地層中，近、遠源距中子探測器采集中子計數分別為N_S、N_L；近、遠、超遠源距伽馬探測器采集伽馬能譜；

②利用近、遠源距伽馬探測器能譜計數扣除超遠源距伽馬探測器采集的本底伽馬能譜，得到不含本底的近、遠源距伽馬能譜，其總計數分別為G_S、G_L；

③計算近、遠源距處能量在0.1MeV～1MeV之間的伽馬計數g_S、g_L，利用中子計數N_S、N_L和伽馬計數g_S、g_L，計算R(或lnR)值，R表達式如下：

R=gSgL-NLNSgS]]>

當近、遠伽馬探測器總計數率偏低時，可以用總計數G_S、G_L代替g_S、g_L計算R(或lnR)值，此時R表達式為：

R=GSGL-NLNSGS]]>

④根據儀器在刻度井中得到的R(或lnR)與地層密度ρ之間的響應關系，利用上面計算得到的R(或lnR)值計算得到未知地層密度。