[發明專利]觸控檢測方法及觸控傳感器

有效

• 申請號: 201210191908.6
• 申請日: 2012-06-12
• 公開（公告）號: CN102902400A
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發明（設計）人: 住尚樹;松井義和
• 申請（專利權）人: 群康科技(深圳)有限公司;奇美電子股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 駱希聰

1.一種觸控檢測方法，包括：

掃描一觸控傳感器的列電極或行電極，以獲得該觸控傳感器的觸控資料；

根據該觸控資料將多個座標標記為觸控影像；

以像素區邊緣為對稱軸，分別將該觸控影像中對應在x方向上鄰接該像素區邊緣的至少一該行電極的觸控資料，以及該觸控影像中對應在y方向上鄰接該像素區邊緣的至少一該列電極的觸控資料，鏡像復制到至少一對應觸控感測區外的位置；

加權計算出該觸控影像的中心點位置（x_ave,y_ave）；以及

輸出該觸控影像的中心點位置（x_ave,y_ave）。

2.如權利要求1所述的觸控檢測方法，其特征在于，鄰近該像素區邊緣的至少一該行及列電極包括由該像素區邊緣往內數過去的第2行電極及第2列電極。

3.如權利要求1所述的觸控檢測方法，其特征在于，對應該觸控感測區外的位置與該像素區邊緣的距離等于該觸控資料被復制的位置與該像素區邊緣的距離。

4.如權利要求1所述的觸控檢測方法，其特征在于，該觸控影像的中心點位置（x_ave,y_ave）是根據以下算式計算而得，其中ν_x，y是在位置(x,y)的該觸控資料，以電容值來表示觸控位準，M是該行電極的數目，N是該列電極的數目：

xave=Σx=1MΣy=1N(Xmodvx,y)/Σx=1MΣy=1N(kvx,y)]]>

x_mod=1+(-1)=0,k=2(x=1)；

x_mod=M+(M+2)=2M+2,k=2(x=M)；

x_mod=x,k=1，當x≠1且x≠M的情況，

yave=Σx=1MΣy=1N(ymodvx,y)/Σx=1MΣy=1N(kvx,y)]]>

y_mod=1+(-1)=0,k=2(y=1)；

y_mod=N+(N+2)=2N+2,k=2(y=N)；

y_mod=y,k=1，當y≠1且y≠N的情況。