[發(fā)明專利]一種吸波涂層測厚儀的校準和測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210184345.8 | 申請日： | 2012-06-06 |
| 公開（公告）號： | CN102735152A | 公開（公告）日： | 2012-10-17 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 程玉華;鄧龍江;姜籍翔;謝建良;鄭曉剛 | 申請（專利權(quán)）人： | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號： | G01B7/06 | 分類號： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 成都行之專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 溫利平 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 涂層 測厚儀 校準 測量方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種吸波涂層測厚儀的校準和測量方法，其特征在于，包括以下步驟：
（1）、校準時，使用厚度為yi標準吸波涂層塊，采集對應(yīng)的反映吸波涂層厚度的電壓值xi，得到數(shù)據(jù)組(xi,yi)，其中i＝1,2,…,n，n為數(shù)據(jù)組數(shù)量，由數(shù)據(jù)組(xi,yi)計算得到乘積zi=xi·yi；
首先令
解線性方程組
其中，矩陣AT為矩陣A的轉(zhuǎn)置矩陣；
然后，通過算式K=1/E，b=-D·K,a=K·(F-b)，求得參數(shù)：a、b、K；
（2）、測量時，根據(jù)采集到的反映吸波涂層厚度的電壓值x，通過擬合曲線y=a/(K-x)+b，計算出吸波涂層的厚度y。
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