[發明專利]一種基站增益溫度補償、校準及驗證方法和補償裝置

有效

• 申請號: 201210179125.6
• 申請日: 2012-06-01
• 公開（公告）號: CN103458447B
• 公開（公告）日: 2018-05-25
• 發明（設計）人: 陳豪;余運濤
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04W24/04
• 分類號: H04W24/04;H04W52/52
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 解婷婷;龍洪

1.一種基站的增益溫度驗證方法，包括：

獲取處于高低溫環境中的樣本基站的第一增益溫度變化關系；

獲取處于高溫老化環境中的各基站的第二增益溫度變化關系；

判斷同溫度條件下每個基站在高溫老化環境中的增益與樣本基站在高低溫環境中的增益的差值是否在預設范圍內，如果是，則該基站的增益溫度特性未發生改變；如果不是，則該基站的增益溫度特性發生改變；

其中：

所述獲取處于高低溫環境中的樣本基站的第一增益溫度變化關系，包括：

將樣本基站置于高低溫環境中進行溫度循環，每隔第一預設時間，獲取連接樣本基站網口的計算機讀取的基站第一檢測功率、連接樣本基站收發接口的功率計測得的基站第二檢測功率，以及樣本基站內部單板的溫度值，基站增益為該基站第一檢測功率與基站第二檢測功率的差值，所述第一增益溫度變化關系包括樣本基站內部單板的溫度值及各溫度值對應的基站增益；

所述獲取處于高溫老化環境中的各基站的第二增益溫度變化關系，包括：

將基站置于高溫老化環境中，在常溫至高溫過程中，每隔第二預設時間，采集并記錄各基站當前溫度及該溫度對應的上行底噪和下行功率檢測值，每個基站的第二增益溫度變化關系包括溫度及該溫度對應的上行底噪和下行功率檢測值。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于：

對于宏基站，所述高低溫環境是指-40℃～50℃的環境。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于：

判斷同溫度條件下每個基站在高溫老化環境中的增益與樣本基站在高低溫環境中的增益的差值是否在預設范圍內，包括：

針對上下行增益分別判斷，相同溫度時各基站在高溫老化環境中的基站增益與樣本基站在高低溫環境中的基站增益的差值是否在預設范圍內，只要有一個溫度下的差值不在預設范圍內，則認為該基站的增益溫度特性發生改變；

所述各基站與樣本基站的硬件電路相同。

4.一種基站的增益溫度校準方法，包括：

獲取處于高低溫環境中的樣本基站不同區域各自對應的增益溫度變化關系；

獲取處于高溫老化環境中的各基站的增益溫度變化關系；

篩選在高溫老化環境中的增益與樣本基站在高低溫環境中的增益的差值在預設范圍內的基站，即篩選增益溫度特性未發生改變的基站，進行校準；

其中：

基站不同區域包括單板區域和功放區域，所述功放區域在某溫度的增益數據為該溫度下基站的增益數據減去該溫度下單板的增益數據；

所述獲取處于高低溫環境中的樣本基站不同區域各自對應的增益溫度變化關系，包括：

將樣本基站置于高低溫環境中進行溫度循環，每隔第一預設時間，獲取連接樣本基站網口的計算機讀取的基站第一檢測功率、連接樣本基站收發接口的功率計測得的基站第二檢測功率，以及樣本基站內部單板的溫度值，功放的溫度值，基站增益為該基站第一檢測功率與基站第二檢測功率的差值；

將樣本基站中的單板置于高低溫環境中進行溫度循環，每隔第三預設時間，獲取單板的溫度值，連接單板網口的計算機讀取的單板第一檢測功率，連接單板收發接口的頻譜儀測得的單板第二檢測功率，單板增益為該單板第一檢測功率與單板第二檢測功率的差值；

所述單板區域的增益溫度變化關系包括單板溫度值及各溫度值對應的單板增益；功放區域在某溫度的增益為該溫度下基站增益與單板增益的差值，所述功放區域的增益溫度變化關系包括功放溫度值及各溫度值對應的功放增益；

所述獲取處于高溫老化環境中的各基站的增益溫度變化關系，包括：

將基站置于高溫老化環境中，在常溫至高溫過程中，每隔第二預設時間，采集并記錄各基站當前溫度及該溫度對應的上行底噪和下行功率檢測值，每個基站的增益溫度變化關系包括溫度及該溫度對應的上行底噪和下行功率檢測值。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于：

對于宏基站，所述高低溫環境是指-40℃～50℃的環境。