[發明專利]一種調試方法、芯片、單板及系統有效
| 申請號: | 201210176833.4 | 申請日: | 2012-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN102752166A | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發明(設計)人: | 董杰明;李衛華 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 調試 方法 芯片 單板 系統 | ||
技術領域
本發明涉及通信領域,尤其涉及一種調試方法、芯片、單板及系統。
背景技術
在網絡設備開發及其后期維護過程中,調試是必不可少的步驟。隨著互聯網技術的飛速發展,可維可測技術成為一個新的技術,而遠程調試作為可維可測技術中的一項關鍵技術點,成為人們的關注對象。
現有的遠程調試技術中,終端運行調試軟件通過以太網口向待調試單板的主控CPU發送調試指令,所述主控CPU內置soft?probe(軟化仿真器)來解析調試指令,通過內置協議轉換器的FPGA/CPLD(Field-Programmable?Gate?Array/Complex?Programmable?LogicDevice,現場可編程門陣列/復雜可編程邏輯器件)將所述調試指令發送給芯片SOC(System?on?Chip,系統級芯片)上的ASIC,ASIC執行調試操作并將調試結果經FPGA/CPLD發送給主控CPU,所述主控CPU再將所述調試結果打包通過以太網口返回給終端,由所述終端根據所述調試結果進行問題定位。
在實現上述調試的過程中,發明人發現現有技術中至少存在如下問題:有的單板上沒有主控CPU,現有調試方案無法運作;另外在FPGA/CPLD上內置協議轉換器,增加單板整體成本。
發明內容
本發明的實施例提供一種調試方法、芯片、單板及系統,可以在不影響硬件布局和軟件性能的情況下對沒有主控CPU的單板進行遠程調試。
為達到上述目的,本發明的實施例采用如下技術方案:
一種調試方法,包括:
以太網口接收終端發送的數據包,其中,所述數據包攜帶有業務標識,所述業務標識包括調試業務標識或正常業務標識;
所述以太網口根據所述數據包攜帶的業務標識判斷當前業務類型;
當判斷出所述當前業務類型為調試業務時,所述以太網口通過總線將所述數據包寫入存儲器,并通過所述總線向CPU發送中斷通知;
所述CPU根據所述中斷通知,從所述存儲器中讀取所述數據包,解析出所述數據包中的調試指令,并將所述調試指令發送給協議轉換模塊;
所述協議轉換模塊將所述調試指令轉換為聯合測試行為組織JTAG碼流,并將所述JTAG碼流發送給專用集成電路ASIC,以使得所述ASIC根據所述JTAG碼流進行調試,并將調試結果返回給所述協議轉換模塊;
所述協議轉換模塊將所述調試結果返回給所述CPU;
所述CPU將所述調試結果組裝成調試結果數據包,通過所述總線和所述以太網口返回給所述終端,以使得所述終端根據所述調試結果數據包進行問題定位。
一種芯片,包括專用集成電路ASIC和處理單元;
所述處理單元包括以太網口、總線、CPU、存儲器和協議轉換模塊,其中
所述以太網口,用于接收終端發送的數據包,其中,所述數據包攜帶有業務標識,所述業務標識包括調試業務標識或正常業務標識;
所述以太網口,還用于根據所述數據包攜帶的業務標識判斷當前業務類型;
所述以太網口,還用于在判斷出所述當前業務類型為調試業務時,通過總線將所述數據包寫入存儲器,并通過所述總線向CPU發送中斷通知;
所述CPU,用于根據所述中斷通知,從所述存儲器中讀取所述數據包,解析出所述數據包中的調試指令,并將所述調試指令發送給協議轉換模塊;
所述協議轉換模塊,用于將所述調試指令轉換為聯合測試行為組織JTAG碼流,并將所述JTAG碼流發送給專用集成電路ASIC;
所述ASIC,用于根據所述JTAG碼流進行調試操作,并將調試結果返回給所述協議轉換模塊;
所述協議轉換模塊,還用于將所述調試結果返回給所述CPU;
所述CPU,還用于將所述調試結果組裝成調試結果數據包,通過所述總線和所述以太網口發送給所述終端,以使得所述終端根據所述調試結果數據包進行問題定位。
一種單板,包括上述的芯片。
一種系統,包括終端和上述的單板。
上述技術方案提供的一種調試方法、芯片、單板及系統,通過將包括以太網口、總線、CPU、存儲器和協議轉換模塊的處理單元內置于單板上的芯片內,與所述芯片上的ASIC之間進行調試業務來往,在不影響單板的硬件布局和軟件性能的情況下完成調試方法,同時在單板上沒有主控CPU時也可運行單板上的所述芯片應用上述的技術方案完成調試。
附圖說明
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