[發明專利]用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置、檢測評定系統及方法有效

申請號：	201210168213.6	申請日：	2012-05-25
公開（公告）號：	CN102682683A	公開（公告）日：	2012-09-19
發明（設計）人：	張培林;柳在健	申請（專利權）人：	京東方科技集團股份有限公司
主分類號：	G09G3/00	分類號：	G09G3/00
代理公司：	北京路浩知識產權代理有限公司 11002	代理人：	王瑩
地址：	100015 ***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	用于檢測液晶模組裝置評定系統方法
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及液晶模組檢測技術領域，尤其涉及一種用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置、檢測評定系統及方法。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器（Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display，TFT-LCD）具有體積小、功耗低、無輻射等特點，已經廣泛地應用于人們的生產和生活當中，這其中包括TV、Monitor、以及便攜式的電子顯示產品等，各大面板廠商都在努力提高產品的性能，例如降低能耗，增大視角，減小響應時間等。這其中對于顯示面板殘像的改善尤為重要，因為它直接影響了顯示畫面的品質。

殘像是指長時間驅動特定停止畫像后，變換為其他畫像時留有原來畫像的圖案的現象。殘像是發生在液晶盒內部的一種現象，由于長時間顯示靜止畫面后，改變為其他圖像時，液晶分子不能即時完全的發生偏轉以適應新的畫面，從而影響了顯示效果。

殘像依據發生的形態不同可以分為面殘像（area?image?sticking）和線殘像（line?image?sticking）兩種。對殘像機理的研究表明，產生殘像的主要原因是殘留電荷的影響，這包括外加電場作用下在液晶盒內部產生的極化電荷以及在液晶盒內部雜質電荷的不同分布。這些殘留的電荷會影響液晶在液晶盒頂部和底部的取向，從而使得殘像發生在整個面板區域，比較嚴重的分布在具有明顯顏色差別的圖像交界位置。殘像的產生還受其他因素影響，比如外界溫度、畫面類型和靜止時間長短、亮度等級等。

通常，在液晶模組裝配完成后，需要對其畫面品質、灰塵、異物等等方面進行檢測，以提高液晶模組的品質及成品率。這其中包括對殘像進行檢測及評定的部分。液晶模組的檢測環境需要達到一定的溫度，傳統的對殘像進行評定的系統主要包括兩大部分：一部分為信號發生部分，一部分為外界的加熱和溫控設備，由于加熱和溫控設備需要外加大功率電源和復雜的控溫裝置，所以傳統的殘像檢測系統通常體積很大，造價也高，并且由于設備體積大，所以不便移動，需要專用的評價場地，無法進行便利的實時評價，從而不利于對殘像等級進行隨時監控。

發明內容

（一）要解決的技術問題

本發明要解決的技術問題是：提供一種體積小、方便攜帶的用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置、檢測評定系統及方法。

（二）技術方案

為解決上述問題，本發明提供了一種用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，該裝置包括：密封隔熱透明容器，用于容納待測液晶模組；溫度控制模塊，用于對所述容器內的溫度進行調節；信號發生模塊，用于為所述待測液晶模組提供驅動信號。

優選地，所述溫度控制模塊包括：溫度控制單元和溫度調節單元，其中，所述溫度控制單元用于感應所述容器內的溫度，并根據感應到的溫度開閉所述溫度調節單元；所述溫度調節單元與所述溫度控制單元相連，用于對所述容器內的溫度進行調節。

優選地，所述溫度控制單元集成于所述容器內。

優選地，所述溫度調節單元集成于所述容器內。

優選地，所述信號發生模塊集成于所述容器內。

優選地，所述溫度控制單元包括：溫度傳感器和控制器，其中，所述溫度傳感器用于感應所述容器內的溫度，并將感應到的溫度數據發送至所述控制器；所述控制器根據所述溫度數據開閉所述溫度調節單元。

優選地，所述信號發生模塊為可編程邏輯控制器。

優選地，所述控制器與所述信號發生模塊為同一塊可編程邏輯控制器。