[發明專利]用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置、檢測評定系統及方法

有效

• 申請號: 201210168213.6
• 申請日: 2012-05-25
• 公開（公告）號: CN102682683A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 張培林;柳在健
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，其特征在于，該裝置包括：

密封隔熱透明容器，用于容納待測液晶模組；

溫度控制模塊，用于對所述容器內的溫度進行調節；

信號發生模塊，用于為所述待測液晶模組提供驅動信號。

2.如權利要求1所述的用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，其特征在于，所述溫度控制模塊包括：溫度控制單元和溫度調節單元，其中，

所述溫度控制單元用于感應所述容器內的溫度，并根據感應到的溫度開閉所述溫度調節單元；

所述溫度調節單元與所述溫度控制單元相連，用于對所述容器內的溫度進行調節。

3.如權利要求2所述的用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，其特征在于，所述溫度控制單元集成于所述容器內。

4.如權利要求2所述的用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，其特征在于，所述溫度調節單元集成于所述容器內。

5.如權利要求1所述的用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，其特征在于，所述信號發生模塊集成于所述容器內。

6.如權利要求2所述的用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，其特征在于，所述溫度控制單元包括：溫度傳感器和控制器，其中，

所述溫度傳感器用于感應所述容器內的溫度，并將感應到的溫度數據發送至所述控制器；

所述控制器，根據所述溫度數據開閉所述溫度調節單元。

7.如權利要求6所述的用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，其特征在于，所述信號發生模塊為可編程邏輯控制器。

8.如權利要求7所述的用于檢測殘像的液晶模組檢測裝置，其特征在于，所述控制器與所述信號發生模塊為同一塊可編程邏輯控制器。

9.一種用于檢測殘像的液晶模組檢測評定系統，其特征在于，該系統包括權利要求1-8任一項所述的裝置。

10.一種用于檢測殘像的液晶模組檢測評定方法，其特征在于，該方法包括步驟：

S1.將待測液晶模組放入密封隔熱透明容器內；

S2.為所述待測液晶模組提供驅動信號，將所述待測液晶模組點亮；

S3.感應所述容器內的溫度，若感應到的溫度未達到檢測溫度基準范圍，則等待；若感應到的溫度超出了所述檢測溫度基準范圍，則調節所述容器內的溫度，直至感應到的溫度位于檢測溫度基準范圍內，開始對所述待測液晶模組的檢測。