[發(fā)明專利]一種零電流檢測(cè)電路和方法、及電壓變換電路無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210163278.1 | 申請(qǐng)日: | 2012-05-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103424605A | 公開(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李茂旭;李東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 快捷半導(dǎo)體(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R19/175 | 分類號(hào): | G01R19/175;H02M3/10 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 武晨燕;程立民 |
| 地址: | 215021 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電流 檢測(cè) 電路 方法 電壓 變換 | ||
1.一種零電流檢測(cè)電路,其特征在于,該電路包括:補(bǔ)償電路、檢測(cè)電路,其中,
補(bǔ)償電路,配置為根據(jù)直流-直流(DC-DC)變換電路的輸出電壓反饋補(bǔ)償電壓至檢測(cè)電路;
檢測(cè)電路,配置為根據(jù)所述補(bǔ)償電壓動(dòng)態(tài)調(diào)整故作失調(diào)電壓(Voffset),按照調(diào)整后的Voffset對(duì)所述DC-DC變換電路進(jìn)行零電流檢測(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的零電流檢測(cè)電路,其特征在于,所述補(bǔ)償電路,具體配置為所述DC-DC變換電路為降壓(BUCK)電路時(shí),將BUCK電路的輸出電壓作為補(bǔ)償電壓反饋至檢測(cè)電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的零電流檢測(cè)電路,其特征在于,所述補(bǔ)償電路包括:PMOS(P31)、PMOS(P32)、PMOS(P33)、開關(guān)(S31)、開關(guān)(S32)、開關(guān)(S33)、電流源(Q31)、NMOS(N31)、NMOS(N32)、電阻(R31)、電阻(R32),其中,PMOS(P31)、PMOS(P32)為共源共柵連接,源極均連接BUCK電路的輸入電壓Vin,PMOS(P31)的漏極與源極相連,并連接NMOS(N31)和NMOS(N32)的漏極;PMOS(P32)的漏極通過(guò)開關(guān)(S31)連接Voffset;PMOS(P33)的柵極連接NMOS(N31)的源極和NMOS(N32)的柵極,并連接BUCK電路的輸出電壓Vout,漏極接地,源極連接電流源(Q31)的負(fù)極和NMOS(N31)的柵極;NMOS(N31)的源極連接電阻(R31);NMOS(N32)的源極連接電阻(R32);電流源(Q31)的正極連接輸入電壓Vin;電阻(R31)對(duì)地連接有開關(guān)(S32);電阻(R32)對(duì)地連接有開關(guān)(S33)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的零電流檢測(cè)電路,其特征在于,所述檢測(cè)電路包括:開關(guān)(S34)、開關(guān)(S35)、開關(guān)(S36)、開關(guān)(S37)、PMOS(P34)、PMOS(P35)、PMOS(P36)、NMOS(N33)、NMOS(N34)、NMOS(N35)、NMOS(N36)、電流源(Q32)、電容(CS31),其中,開關(guān)(S34)一端連接開關(guān)節(jié)點(diǎn)(SW),另一端連接電容(CS31)負(fù)極和開關(guān)(S35);開關(guān)(S35)另一端接地;電容(CS31)正極連接PMOS(P34)和NMOS(N33)的柵極;PMOS(P34)的源極連接電流源(Q32)的負(fù)極,漏極與NMOS(N33)的漏極連接,并連接PMOS(P35)和NMOS(N35)的柵極;電流源(Q32)的正極連接輸入電壓Vin;NMOS(N33)的源極連接補(bǔ)償電路和NMOS(N34)的漏極,并對(duì)地連接開關(guān)(S37),柵極和漏極之間連接開關(guān)(S36);NMOS(N34)的漏極電壓為Voffset,NMOS(N34)的源極接地,柵極接輸入電壓Vin;PMOS(P35)和NMOS(N35)、PMOS(P36)和NMOS(N36)分別連接成兩個(gè)反相器,PMOS(P36)和NMOS(N36)的漏極為零電流檢測(cè)電路的輸出端。
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