[發明專利]圖像處理裝置、射線照像圖像捕獲系統和圖像處理方法有效
| 申請號: | 201210162756.7 | 申請日: | 2012-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN102793553A | 公開(公告)日: | 2012-11-28 |
| 發明(設計)人: | 田島崇史 | 申請(專利權)人: | 富士膠片株式會社 |
| 主分類號: | A61B6/03 | 分類號: | A61B6/03 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 夏東棟;陸錦華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 處理 裝置 射線 捕獲 系統 方法 | ||
1.一種圖像處理裝置,其包括:
層析圖像生成部件,其從射線照像圖像檢測器獲取多個第一射線照像圖像,所述多個第一射線照像圖像通過從被設置使得面向所述射線照像圖像檢測器的放射線照射部相對于在所述射線照像圖像檢測器上的被攝體從不同的角度照射放射線利用所述射線照像圖像檢測器來捕獲,并且所述層析圖像生成部件通過使用所述射線照像圖像檢測器的檢測面作為基準重建所述多個第一射線照像圖像來生成所述被攝體的多個層析圖像;
顯示處理部件,其在顯示部件上顯示通過由所述放射線照射部相對于在所述射線照像圖像檢測器上的所述被攝體從預定角度照射放射線而由所述射線照像圖像檢測器獲取的第二射線照像圖像;以及,
檢測部件,其
(a)如果在所顯示的第二射線照像圖像上指定包括關心物體的關心區域,則通過將所述關心區域與作為與所述關心區域對應的所述多個層析圖像中的區域的對應區域作比較來執行圖像分析,并且基于圖像分析的結果來檢測出包括與所述關心區域類似的對應區域的層析圖像,并且
(b)如果在所述第二射線照像圖像上指定所述關心物體的關心位置,則通過將所述關心位置與作為對應于所述關心位置的所述多個層析圖像中的位置的對應位置作比較來執行圖像分析,并且基于圖像分析的結果來檢測出包括與所述關心位置類似的對應位置的層析圖像。
2.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中
(a1)如果所述關心區域的尺寸小于預定尺寸,則所述檢測部件將其中各個像素的像素值等于或大于預定像素值的對應區域確定為與所述關心區域類似,并且
(b1)如果指定所述關心位置,則所述檢測部件將其中各個像素的像素值等于或大于所述預定像素值的對應位置確定為與所述關心位置類似。
3.根據權利要求2所述的圖像處理裝置,其中,所述檢測部件從檢測結果排除在使用所述射線照像圖像檢測器的所述檢測面作為基準重建的方向上相鄰的層析圖像。
4.根據權利要求2或3所述的圖像處理裝置,其中
(a2)如果檢測到包括類似于所述關心區域的所述對應區域的多個層析圖像,則所述檢測部件設置包括所述關心區域并且大于所述預定尺寸的檢測區域,并且基于所述檢測區域的像素的像素值和所述對應區域的像素的像素值來執行圖像分析,并且
(b2)如果檢測到包括類似于所述關心位置的所述對應位置的多個層析圖像,則所述檢測部件設置包括所述關心位置的檢測區域,并且基于所述檢測區域的像素的像素值和所述對應位置的像素的像素值來執行圖像分析。
5.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,如果所述關心區域的尺寸等于或大于預定尺寸,則所述檢測部件基于所述關心區域的像素的像素值和所述對應區域的像素的像素值來執行圖像分析。
6.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,如果所述檢測部件的圖像分析的結果指示沒有與所述關心區域或所述關心位置類似的對應區域或對應位置,則所述層析圖像生成部件減小用于生成層析圖像的切片厚度,并且重新生成所述層析圖像。
7.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,所述顯示處理部件在所述顯示部件上顯示所檢測出的層析圖像。
8.根據權利要求7所述的圖像處理裝置,其中,如果所述檢測部件檢測到多個層析圖像,則所述顯示處理部件以從包括與所述關心區域或所述關心位置具有高度類似性的對應區域或對應位置的層析圖像開始的順序顯示所檢測出的層析圖像。
9.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,所述預定角度是與所述射線照像圖像檢測器的所述檢測面相交的方向的角度。
10.一種射線照像圖像捕獲系統,其包括:
射線照像圖像捕獲裝置,其通過由設置使得面向所述射線照像圖像檢測器的放射線照射部相對于在所述射線照像圖像檢測器上的被攝體從不同角度照射放射線,通過射線照像圖像檢測器捕獲多個射線照像圖像;以及,
根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其從所述射線照像圖像生成層析圖像。
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