[發明專利]三棱鏡最小偏向角及其光學材料折射率的測試方法

無效

• 申請號: 201210160611.3
• 申請日: 2012-05-22
• 公開（公告）號: CN102661854A
• 公開（公告）日: 2012-09-12
• 發明（設計）人: 吳志強;周佺佺;吳德林
• 申請（專利權）人: 成都光明光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/41
• 代理公司: 成都虹橋專利事務所 51124
• 代理人: 蒲敏

技術領域

本發明涉及一種三棱鏡樣塊的三個頂角所對應的最小偏向角及其光學材料折射率的測試方法。

背景技術

光學材料的折射率參數是進行光學設計的基礎，只有精確掌握光學材料折射率的可靠數據，才能根據要求完成高質量的設計工作。而對于光學材料研究制造者而言，確定所研究的光學材料的折射率性能指標是重要的基本內容，是進行材料評定的技術基礎，也是生產定型的參考依據，因此，對光學材料折射率的精確測定是使用、研制光學材料的前提。

隨著光學工業的發展，對光學材料的要求不但數量大，而且質量要求也越來越高。由于測角儀測試精度高，且為絕對測量，通常折射率測量精度為10^-5，目前，一般采用測角儀來對光學材料的折射率進行高精度測量。但若要使折射率測量精度達到10^-6，甚至更高，就需要測角精度在1以上的大型精密測角儀。但精密測角儀價錢高昂，構造復雜，對使用環境和操作者有較高要求，不利于生產、工程等方面的廣泛應用。

利用測角儀進行折射率測試時，一般采用最小偏向角法進行測試，需要將試樣加工成三棱鏡，對單個頂角采用最小偏向角法，這對于三棱鏡的頂角、第二光學平行差及通光面的加工要求很高，樣塊制備難度大，周期長。另外，進行最小偏向角瞄準時，如果人眼目視對準，容易受測試人員經驗和測試強度影響；而采用光電對準時，會受雜散光和像質等因素影響，瞄準精度都受到很大限制，影響最小偏向角的定位精度。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種三棱鏡樣塊的三個頂角所對應的最小偏向角的測試方法，并實現采用低精度測角儀也可以對光學材料折射率進行高精度地測試。

本發明解決技術問題所采用的技術方案是：三棱鏡最小偏向角的測試方法，該方法包括以下步驟：1）在測出三棱鏡樣塊的某個頂角A的角度值A后，在該頂角光線出射的一側，利用測角儀的望遠鏡尋找到對應的最小偏向角位置并對準折射像后，將望遠鏡繞該頂角方向轉過（180°-A）；2）通過望遠鏡觀察，如果正好對準反射像，就說明三棱鏡樣塊已處于所照明的單色光的最小偏向角位置上；3）如果通過望遠鏡觀察，不是對準反射像，則轉動望遠鏡使其對準反射像，然后再將望遠鏡繞該頂角往回轉過（180°-A），回到光線出射的一側，通過望遠鏡觀察此時是否對準折射像，如果沒對準，再轉動望遠鏡使其對準折射像，如此反復多次，就可以使三棱鏡樣塊準確地處于所照明的單色光的最小偏向角位置上；4）通過測角儀度盤讀數，獲取該頂角所對應的最小偏向角值δ_minA；5）然后依照上述方法，分別測試另外兩個頂角所對應的最小偏向角值δ_minB和δ_minC。

根據上述方法測得三棱鏡樣塊的三個頂角所對應的最小偏向角δ_minA、δ_minB和δ_minC，然后根據下述任一一種公式可以計算出該三棱鏡樣塊的光學材料的折射率n，公式為：

或