[發(fā)明專(zhuān)利]一種GaN半導(dǎo)體LED芯片制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210159281.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-05-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103426981A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 巴建鋒;余志炎;王磊;路鵬;李國(guó)琪;王強(qiáng);鞏春梅 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 無(wú)錫華潤(rùn)華晶微電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L33/00 | 分類(lèi)號(hào): | H01L33/00 |
| 代理公司: | 中國(guó)專(zhuān)利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李家麟;李浩 |
| 地址: | 214028 中國(guó)無(wú)錫市國(guó)家*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 gan 半導(dǎo)體 led 芯片 制作方法 | ||
1.一種GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,它包括如下步驟:
a)在藍(lán)寶石襯底(7)上依次生長(zhǎng)LED外延片結(jié)構(gòu):p型GaN層(4)、多量子阱層(5)和n型GaN層(6);
b)在所述p型GaN層(4)上,生長(zhǎng)摻錫氧化銦電極層(3);
c)?采用FeCl3?:HCl組成的腐蝕液,對(duì)摻錫氧化銦電極層(3)進(jìn)行過(guò)腐蝕;
d)?采用電子束蒸發(fā)臺(tái),在p型GaN層(4)上和n型GaN層(6)上分別生長(zhǎng)p型歐姆接觸層(1’)和n型電極層(8’);以及
e)對(duì)藍(lán)寶石襯底(7)進(jìn)行減薄、拋光、劃片和裂片處理。
2.如權(quán)利要求1所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,所述步驟d)可以被如下兩個(gè)步驟來(lái)替代:
d-1)?采用等離子體增強(qiáng)型化學(xué)氣相沉積(PECVD)設(shè)備,在摻錫氧化銦電極層(3)上沉積SiO2保護(hù)層(2);以及
d-2)?在已經(jīng)沉積了SiO2保護(hù)層(2)的位置,刻蝕出p型電極區(qū)域(1)和n型電極區(qū)域(8)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,所述摻錫氧化銦電極層(3)在300oC的溫度下生長(zhǎng),厚度為2400?。
4.如權(quán)利要求1或2所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,所述摻錫氧化銦的組分包括:10%的SnO2,和90%的In2O3,并且所述SnO2和In2O3的純度是99.9%。
5.如權(quán)利要求1或2所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,在步驟b)和步驟c)之間,還包括:
步驟b-1):在510oC的溫度下,對(duì)生成的所述摻錫氧化銦電極層(3)進(jìn)行退火,持續(xù)時(shí)間10分鐘。
6.如權(quán)利要求1或2所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,所述FeCl3?:HCl組成的腐蝕液的配比是3:1或5:1,并將由所述配比組成的FeCl3?:HCl腐蝕液加熱到30oC-50oC后,將摻錫氧化銦電極層(3)過(guò)腐蝕2μm-3μm,使得經(jīng)過(guò)腐蝕后的摻錫氧化銦電極層(3)比所述p型GaN層(4)的圖形小。
7.如權(quán)利要求2所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,?所述SiO2保護(hù)層(2)的厚度是1100?,且在220oC的溫度下生成。
8.如權(quán)利要求1或2所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,還包括在完成步驟c)之后,采用感應(yīng)耦合等離子體設(shè)備,進(jìn)行干法腐蝕,從p型GaN層(4)刻蝕到n型GaN層(6),從而形成1.1μm?-?1.6μm的臺(tái)面結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求1所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,所述p型歐姆接觸層(1’)和所述n型電極層(8’)所采用的材料可以是Cr/Pt/Au的組合,或者是Ni/Au的組合,或者是Pt/Au的組合;
其中,當(dāng)采用Cr/Pt/Au的組合時(shí),Cr的生長(zhǎng)厚度是400?,Pt的生長(zhǎng)厚度是200?,而Au的生長(zhǎng)厚度是10000?;或者
其中,當(dāng)采用的是Ni/Au的組合時(shí),Ni的生長(zhǎng)厚度是500?,Au的生長(zhǎng)厚度是8000?;或者
其中,當(dāng)采用Pt/Au,Pt的生長(zhǎng)厚度是300?,而Au的生長(zhǎng)厚度是10000?。
10.如權(quán)利要求1所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,在完成p型歐姆接觸層(1’)和n型電極層(8’)的生長(zhǎng)之后,在280oC的溫度下,對(duì)已經(jīng)生長(zhǎng)的p型歐姆接觸層(1’)的金屬進(jìn)行合金,所述合金形成的持續(xù)時(shí)間是10分鐘。
11.如權(quán)利要求1或2所述的GaN半導(dǎo)體LED芯片制作工藝,其特征在于,所述減薄處理是將藍(lán)寶石襯底研磨至125μm的厚度,所述拋光處理是將經(jīng)研磨后的襯底再拋光至85μm的厚度,而所述劃片處理的深度是25μm-35μm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專(zhuān)門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件





