[發明專利]在計算機斷層造影儀中的誤差識別

無效

• 申請號: 201210142603.6
• 申請日: 2012-05-09
• 公開（公告）號: CN102772218A
• 公開（公告）日: 2012-11-14
• 發明（設計）人: R.勞佩克;N.魯斯卡;O.塞姆布里茲基
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種用于在計算機斷層造影儀（1）中進行誤差識別的方法，所述計算機斷層造影儀包括具有旋轉陽極（10）的X射線管（2）以及至少一行探測器（3），其中借助所述計算機斷層造影儀（1）進行測試測量，在所述測試測量的過程中，時間分辨地采集至少一個探測器行（13a，13b）中的照射強度（B），其中，確定在旋轉陽極頻率（f_A）和/或該頻率（f_A）的整數倍的情況下所采集的照射強度（B）的至少一個光譜選擇性的波動（F_F）并且其中從所述光譜選擇性的波動導出對于X射線管（2）的板沖擊強度的度量。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，將所述光譜選擇性的波動（F_F）分別與對應的邊界值（F_G）比較，并且其中，當所述光譜選擇性的波動（F_F）超過邊界值（F_G）時，將旋轉陽極（10）的板沖擊作為誤差原因識別。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，作為對于采集的照射強度（B）的光譜選擇性的波動（F_F）的度量，引入在旋轉陽極頻率（f_A）或該頻率（f_A）的整數倍的情況下照射強度（B）的傅里葉變換（F）。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中，在測試測量期間利用這樣窄地準直的X射線（R）照射探測器（3），使得所述探測器行或至少一個探測器行（13a，13b）始終至少部分地遮蔽。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，在測試測量期間所述X射線（R）被準直到計算機斷層造影儀（1）的同心軸（5）的區域中測量的、2×1mm的射線橫截面上。

6.根據上述權利要求1至5中任一項所述的方法，其中，分開地時間分辨地采集至少兩個探測器行（13a，13b）中的照射強度（B），并且其中，作為對于所采集的照射強度（B）的光譜選擇性的波動（F_F）的度量，引入在旋轉陽極頻率（f_A）或該頻率（f_A）的整數倍的情況下照射強度（B）的各自的傅里葉變換（F）的和信號和/或差信號。

7.根據上述權利要求1至6中任一項所述的方法，其中，分開地時間分辨地采集至少兩個探測器行（13a，13b）中的照射強度（B），并且其中，作為對于光譜選擇性的波動（F_F）的度量，引入在旋轉陽極頻率（f_A）或該頻率（f_A）的整數倍的情況下各自的照射強度（B）的和信號和/或差信號的傅里葉變換（F）。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的方法，其中，X射線管（2）和探測器（3）在空測量期間圍繞所述計算機斷層造影儀（1）的同心軸（5）旋轉。

9.一種計算機斷層造影儀（1），具有包括了旋轉陽極（3）的X射線管（2），具有至少單行的探測器（3）以及具有誤差識別單元（15），所述誤差識別單元被構造為自動執行按照權利要求1至8中任一項所述的方法。