[發明專利]利用坐標測量機進行曲線點坐標測量的方法

無效

• 申請號: 201210141324.8
• 申請日: 2012-05-09
• 公開（公告）號: CN102679922A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 王國民;王道垣;胡建棟;費明輝;王旭輝;童云飛;李家樂;楊曉偉;章曉明
• 申請（專利權）人: 無錫市計量測試中心
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 北京五月天專利商標代理有限公司 11294
• 代理人: 任淑華

技術領域

本發明涉及一種利用坐標測量機進行曲線點實際坐標測量的方法。?

背景技術

現有技術中，有以下方法可以檢測曲線點的坐標測量：

?1．通過影像的方式來測量，但只能解決工件表面曲線點的坐標測量；

?2．通過帶掃描功能的坐標測量機來檢測，非規則曲線上被測點的方向余弦無法精確確定，造成測量時只能精確得到測頭中心點的坐標值，測量是通過掃描測量得到測頭中心坐標的擬合曲線，然后根據測頭半徑的大小將該曲線向內或向外擴展得到被測曲線，所以得不到需要的坐標值。即使通過相關的處理軟件來獲取該掃描曲線上的坐標值，它也不是實際曲線的實際坐標值，因為該曲線是擬合曲線，對非規則曲線來說，誤差比較大；

3．類似海克斯康三坐標的PCDIMS軟件的曲面點測量功能完成測量點方向余弦的確定，但不能實現方向余弦的微調及確定點的實際坐標測量。?

發明內容

本發明目的在于提供一種利用坐標測量機進行曲線點坐標測量的方法，能夠快速地實現曲線點實際坐標的高精度測量。

實現本發明目的的技術方案：

利用坐標測量機進行曲線點實際坐標測量的方法，在被測點周圍的微區域內打四個點擬合一微平面以確定測量點的方向，該曲線點所在截面為z,在曲線上固定x坐標或y坐標，測量另一坐標；將測得的坐標值與理論坐標值比較,通過逐次逼近的方法獲得曲線點的實際坐標。

根據對y向變化率和x向變化率的比較，確定固定坐標。

逐次逼近法采用半步法。

逐次逼近法的判定公差根據坐標測量機的定位精度確定。?

本發明具有的有益效果：

本發明在逐次逼近的過程中不斷微調測量點的方向余弦，有效解決方向余弦的精確確定并對測量點進行定坐標測量,重復測量精度不大于2μm，測量精度不大于3μm。本發明能夠在葉片測量、增壓器渦輪殼、中間殼的型腔測量及一些型線綜合樣板的檢測等方面得到廣泛的應用，由于能精確測量型線上的實際坐標值，更能便于加工程序的調整和模具的修正。

附圖說明

附圖為本發明的流程框圖。

具體實施方式

在被測點周圍的微區域內(實施時，可以為0.1mm)打四個點擬合一微平面，該平面的法向為測量點的測量方向，該曲線點所在截面的坐標為z,在曲線上固定x坐標或y坐標，測量另一坐標；將測得的坐標值與理論坐標值比較，通過逐次逼近的方法使兩者的差值落到公差T范圍內，最終獲得曲線點的坐標。逐次逼近法采用半步法，公差T根據坐標測量機的定位精度及零件情況確定。

對前后兩次的測量坐標作比較，根據對y向變化率和x向變化率的比較確定固定坐標，即如果ΔX＞ΔY，則應固定X坐標，反之固定Y坐標。