[發明專利]發光二極管及其制造方法無效
| 申請號: | 201210140583.9 | 申請日: | 2012-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN103390698A | 公開(公告)日: | 2013-11-13 |
| 發明(設計)人: | 劉恒 | 申請(專利權)人: | 華夏光股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/02 |
| 代理公司: | 北京泛誠知識產權代理有限公司 11298 | 代理人: | 陳波;文琦 |
| 地址: | 開曼群島KY1-11*** | 國省代碼: | 開曼群島;KY |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 發光二極管 及其 制造 方法 | ||
1.一種發光二極管的制造方法,包含:
提供一圖案化基板,該圖案化基板具有多個突出部分,且相鄰所述突出部分之間具有平坦區域;
形成至少一緩沖層于所述圖案化基板上,其中該緩沖層至少填滿所述圖案化基板之突出部分之間的空隙;
形成一缺陷阻隔層于所述緩沖層上;及
形成一發光組件于所述缺陷阻隔層上。
2.根據權利要求1所述發光二極管的制造方法,其中所述圖案化基板包含圖案化藍寶石基板。
3.根據權利要求1所述發光二極管的制造方法,其中所述圖案化基板的提供步驟包含:
提供一基層;及
形成具有所述多個突出部分的一圖案層于所述基層上。
4.根據權利要求1所述發光二極管的制造方法,還包含:
形成一成核層于所述圖案化基板與所述緩沖層之間。
5.根據權利要求1所述發光二極管的制造方法,其中所述缺陷阻隔層的形成步驟包含:
交替堆棧至少一第一子層及至少一第二子層。
6.根據權利要求5所述發光二極管的制造方法,其中所述第一子層與所述第二子層的組合方式選自下列組合之一:AlGaN/InGaN,AlGaN/GaN,GaN/InGaN。
7.根據權利要求1所述發光二極管的制造方法,其中所述發光組件的形成步驟包含:
形成一n型摻雜層于所述缺陷阻隔層上;
形成一主動層于所述n型摻雜層上;及
形成一p型摻雜層于所述主動層上。
8.一種發光二極管,包含:
一圖案化基板,該圖案化基板具有多個突出部分,且相鄰所述突出部分之間具有平坦區域;
至少一緩沖層,形成于所述圖案化基板上,其中該緩沖層至少填滿所述圖案化基板之突出部分之間的空隙;
一缺陷阻隔層,形成于所述緩沖層上;及
一發光組件,形成于所述缺陷阻隔層上。
9.根據權利要求8所述之發光二極管,其中所述圖案化基板包含圖案化藍寶石基板。
10.根據權利要求8所述之發光二極管,其中所述圖案化基板包含:
一基層;及
一圖案層,形成于所述基層上,其中該圖案層具有所述多個突出部分。
11.根據權利要求9所述之發光二極管,其中所述基層的材質包含:砷化鎵、鍺表面形成鍺化硅、硅表面形成碳化硅、鋁表面形成氧化鋁、氮化鎵、氮化銦、氮化鋁、藍寶石、玻璃、石英或上述之組合。
12.根據權利要求10所述之發光二極管,其中所述圖案層的材質包含:二氧化硅、碳化硅、氮化硅或上述之組合。
13.根據權利要求8所述之發光二極管,其中所述緩沖層高于所述突出部分之高度等于或大于5納米。
14.根據權利要求8所述之發光二極管,其中所述緩沖層高于所述突出部分之高度等于或小于100納米。
15.根據權利要求8所述之發光二極管,其中所述緩沖層包含未摻雜氮化鎵、n型氮化鎵、氮化鋁、氮化鋁鎵、氮化鎂、氮化硅或其任意組合。
16.根據權利要求8所述之發光二極管,還包含:
一成核層,形成于所述圖案化基板與所述緩沖層之間。
17.根據權利要求8所述之發光二極管,其中所述缺陷阻隔層包含:
交替堆棧的至少一第一子層及至少一第二子層。
18.根據權利要求17所述之發光二極管,其中每一所述第一子層或每一所述第二子層的厚度小于或等于20納米。
19.根據權利要求8所述之發光二極管,其中所述缺陷阻隔層的厚度小于或等于100納米。
20.根據權利要求17所述之發光二極管,其中所述第一子層與所述第二子層的組合方式選自下列組合之一:AlGaN/InGaN,AlGaN/GaN,GaN/InGaN。
21.根據權利要求8所述之發光二極管,其中所述發光組件包含:
一n型摻雜層,位于所述缺陷阻隔層上;
一主動層,位于所述n型摻雜層上;及
一p型摻雜層,位于所述主動層上。
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