[發明專利]基于低頻段恒指數譜混沌信號源的激光測距系統及其實現方法

無效

• 申請號: 201210138448.0
• 申請日: 2012-05-07
• 公開（公告）號: CN102680982A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 李春彪;王駿;董李江;朱煥強;張衛;沈威東
• 申請（專利權）人: 江蘇經貿職業技術學院
• 主分類號: G01S17/32
• 分類號: G01S17/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.基于低頻段恒指數譜混沌信號源的激光測距系統及其實現方法，其特征在于包括：低頻段恒指數譜混沌信號源、控制系統、相關測試通道、求和測試通道以及判別分析系統。

2.低頻段恒指數譜混沌信號源，其特征是恒指數譜混沌系統包括基本恒Lyapunov指數譜混沌系統、改進系統、推廣系統、雙絕對值系統等李氏恒指數譜混沌系統以及其他恒Lyapunov指數譜鎖定后的系統。該類系統存在幅度調節參數與倒相參數，可以實現混沌信號幅度的自由調控以及相位的倒相控制。

3.控制系統，其特征是包含同步控制機構，倒相控制按鈕。利用一個同步控制機構，同時打開恒指數譜混沌系統的倒相控制按鈕與延時距離門，得到不同延時的恒指數譜混沌系統倒相信號。同步控制機構可以由恒指數譜混沌信號源的同步響應系統所替代，倒相控制按鈕可以由接在驅動系統與響應系統之間的反相同步控制器所替代。

4.相關測試通道，其特征是包含激光調制電路，激光信道，激光解調電路，以及延時距離門和相關檢測系統。通過將原混沌信號的延時信號與經過調制、信道以及解調以后的混沌信號進行相關，得到目標距離信息。

5.求和測試通道，其特征是包含激光調制電路，激光信道，激光解調電路，以及倒相信號延時距離門和求和檢測系統。將倒相混沌信號的延時信號與經過調制、信道以及解調以后的混沌信號進行求和檢測，得到距離信息。

6.判別分析系統，其特征是將相關測試通道與相關測試通道得到的距離信息進行數學平均，從而得到高精度的距離信息。