[發明專利]一種低壓差分信號測試系統和方法無效
| 申請號: | 201210129700.1 | 申請日: | 2012-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN103377962A | 公開(公告)日: | 2013-10-30 |
| 發明(設計)人: | 韓曉東;周毅;胡濤;布倫登·召 | 申請(專利權)人: | 輝達公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;G01R19/04;G01R29/00 |
| 代理公司: | 北京市磐華律師事務所 11336 | 代理人: | 董巍;顧珊 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 低壓 信號 測試 系統 方法 | ||
1.一種低壓差分信號測試系統,所述系統包括:
輸入模塊,用于供用戶輸入測試所需的信息;
通信連接模塊,用于根據用戶選擇的連接方式來與示波器進行連接;
測量模塊,用于通過控制示波器對低壓差分信號的參數進行測量;
評估模塊,用于評估測量結果中的低壓差分信號的參數是否符合技術標準;和
輸出模塊,用于將測得的低壓差分信號的參數以及所述評估模塊對參數的評估結果輸出。
2.如權利要求1所述的系統,進一步包括:
報告生成模塊,用于在測試完成后將測試結果和評估結果生成報告供用戶查閱。
3.如權利要求2所述的系統,其中所述測量模塊包括:
設置模塊,用于對示波器進行設置;
參數測量模塊,用于對信號參數進行測量;和
測量結果獲取模塊,用于將所述信號參數從示波器傳輸到測試系統。
4.如權利要求3中所述的系統,其中所述設置模塊進一步用于:
恢復出廠設置;
鎖定示波器;
設置余輝模式;
設置截屏模式;
設置采樣模式;
選擇測量通道;和
設置測量參考電平。
5.如權利要求2所述的系統,其中所述輸入模塊包括供用戶輸入測試所需的信息的圖形用戶界面。
6.如權利要求2所述的系統,其中所述連接方式包括以太網方式或通用數據總線方式。
7.如權利要求5所述的系統,其中所述測試所需的信息包括:所述技術標準和需測量的信號參數。
8.如權利要求7中所述的系統,其中所述需測量的信號參數包括最大正峰值電壓、最大負峰值電壓、峰-峰值、上升時間、下降時間和抖動。
9.如權利要求2所述的系統,其中所述示波器為用于測試低壓差分信號的示波器。
10.如權利要求2所述的系統,其中所述生成的報告還包括獲取的信號的波形圖。
11.一種低壓差分信號測試方法,所述方法包括:
獲取測試所需的信息;
通過通信連接方式連接到示波器;
通過控制示波器進行參數的測量;
評估測量結果中的低壓差分信號的參數是否符合技術標準;和
將測得的低壓差分信號的參數以及所述評估模塊對參數的評估結果輸出。
12.如權利要求11所述的方法,進一步包括:
在所有測試步驟完成后將測試結果和評估結果生成報告,供用戶查閱。
13.如權利要求12所述的方法,其中所述通過控制示波器進行參數的測量包括:
設置示波器;
測量信號參數;和
將所述信號參數從示波器傳輸到測試系統。
14.如權利要求13所述的方法,其中所述設置示波器包括:
將示波器恢復到出廠設置;
鎖定示波器;
設置余輝模式;
設置截屏模式;
設置采樣模式;
選擇測量通道;和
設置測量參考電平。
15.如權利要求12所述的方法,其中所述獲取測試所需的信息包括:通過圖形用戶界面獲取所述測試所需的信息。
16.如權利要求12所述的方法,其中所述連接方式包括以太網方式和通用數據總線方式。
17.如權利要求15所述的方法,其中所述測試所需的信息包括:測量技術標準、用戶信息和測量參數。
18.如權利要求17中所述的方法,其中所述測量參數包括最大正峰值電壓、最大負峰值電壓、峰-峰值、上升時間、下降時間和抖動。
19.如權利要求12所述的方法,其中所述示波器為用于測試低壓差分信號的示波器。
20.如權利要求12所述的方法,其中所述生成的報告還包括截取的信號的波形圖。
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





