[發(fā)明專利]冶金級(jí)單晶以及類單晶硅的絨面制備方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210123816.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-04-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102810596A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-12-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊華;余義;宋光華;李莊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上澎太陽(yáng)能科技(嘉興)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L31/18 | 分類號(hào): | H01L31/18;C30B33/10 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務(wù)所 31263 | 代理人: | 李獻(xiàn)忠 |
| 地址: | 314031 浙江省嘉興*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 冶金 級(jí)單晶 以及 單晶硅 制備 方法 | ||
1.冶金級(jí)單晶以及類單晶硅的絨面制備方法,所述方法包括常規(guī)制絨過(guò)程,其特征在于,所述方法還包括在所述常規(guī)制絨過(guò)程之前設(shè)置有預(yù)處理過(guò)程。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述預(yù)處理過(guò)程為將清洗后待制絨的硅片置于盛有預(yù)處理液的預(yù)處理槽中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述預(yù)處理液包括堿性物質(zhì)和氧化劑混合物。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述預(yù)處理液包括去離子水。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所示的方法,其特征在于,所述堿性物質(zhì)的質(zhì)量百分比濃度在0.5%-10%之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所示的方法,其特征在于,所述氧化劑的質(zhì)量百分比濃度在2.5%-8%之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述堿性物質(zhì)選自氫氧化鈉,氫氧化鉀,氨水或硫酸氫鈉。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述氧化劑選自雙氧水或臭氧。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述預(yù)處理過(guò)程的工作溫度為30-60℃。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述預(yù)處理過(guò)程持續(xù)時(shí)間為30秒到15分鐘之間。
11.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述預(yù)處理液為氫氧化鉀,雙氧水以及去離子水的混合物。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,所述氫氧化鉀的質(zhì)量百分比濃度為0.5%-10%,所述雙氧水的質(zhì)量百分比濃度為2.5%-8%,所述去離子水的質(zhì)量百分比濃度為82%-97%。
13.根據(jù)權(quán)利要求11或12所述的方法,其特征在于,在工作溫度為30-60℃的條件下,將所述待制絨的硅片置于盛有所述預(yù)處理液的預(yù)處理槽中30秒到15分鐘。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門(mén)適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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