[發(fā)明專利]基于陣列旋轉的綜合孔徑輻射計可見度相位誤差校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210092674.X | 申請日： | 2012-03-31 |
| 公開（公告）號： | CN102621532A | 公開（公告）日： | 2012-08-01 |
| 發(fā)明（設計）人： | 李青俠;靳榕;沈尚宇;陳柯 | 申請（專利權）人： | 華中科技大學 |
| 主分類號： | G01S7/40 | 分類號： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 陣列 旋轉 綜合 孔徑 輻射計 可見度 相位 誤差 校正 方法 | ||
【權利要求書】：
1.基于陣列旋轉的綜合孔徑輻射計可見度相位誤差校正方法，包括以下步驟：
(1)對每根天線ap接收場景的微波熱輻射信號放大、濾波、下變頻和模數轉換變換為數字信號，再將數字信號變換為數字復信號sp(t)，其中t為離散時間變量；
(2)計算兩兩天線的可見度E[]表示求平均值，上標H表示共軛轉置，p，q＝1，...，N，N為天線總數；
(3)將天線陣列整體旋轉180度，重復步驟(1)和(2)得到旋轉后兩兩天線的可見度
(4)將相同天線對旋轉前后的可見度相位相加，得到可見度與天線陣元相位誤差的關系方程其中，分別表示的相位，αp，αq分別表示第p和第q天線陣元的相位誤差；
(5)求解可見度與天線陣元相位誤差的關系方程得到各天線陣元的相位誤差
(6)依據求解得到的陣元相位誤差計算相位誤差校正后的可見度
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