[發(fā)明專利]一種電子產品測試夾具的自動對準方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210070312.0
• 申請日: 2012-03-16
• 公開（公告）號: CN102590566A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發(fā)明（設計）人: 李二文
• 申請（專利權）人: 蘇州工業(yè)園區(qū)世紀福科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 陶海鋒

1.?一種電子產品測試夾具的自動對準方法，其特征在于，包括下列步驟：

(1)提供一與待測產品（29）匹配的校準板（8），在所述校準板（8）上對應于待測產品（29）測試點（30）的位置設置有橫截面與測試點形狀大小相同的凸起（11）；

(2)將所述校準板（8）移動到測試夾具的探針模塊(10)的上方或下方，利用光學傳感系統(tǒng)檢測校準板上的凸起（11）與測試夾具的探針（9）的相對位置，調整校準板（8）相對于測試夾具的位置和方向，使所述凸起(11)對準探針(9)，獲得校準板(8)的第一位置；

(3)移動所述校準板(8)至第二位置，由一位置測量系統(tǒng)測量并記錄校準板上各凸起(11)的位置，然后移去校準板（8）；

(4)將待測產品(29)移至所述第二位置，用所述位置測量系統(tǒng)測量待測產品(29)上各測量點(30)的位置，并和記錄的校準板上對應的凸起(11)的位置進行比較，獲得平移和旋轉的校正量，采用該校正量對第二位置至第一位置的移動距離和方向進行校正后，移動待測產品(29)至第一位置，實現(xiàn)待測產品(29)與測試夾具的自動對準。

2.?根據權利要求1所述的電子產品測試夾具的自動對準方法，其特征在于：步驟(2)中，所述光學傳感系統(tǒng)由X方向和Y方向的兩組互相垂直設置的傳感系統(tǒng)構成，分別從與探針(9)的軸線垂直的平面的X方向和Y方向檢測探針(9)和校準板的凸起(11)的相對位置。

3.?根據權利要求2所述的電子產品測試夾具的自動對準方法，其特征在于：每一傳感系統(tǒng)包括一激光器(27)和至少一個校準相機(12)，激光器(27)發(fā)出的光經過校準板上的凸起(11)和測試夾具上的探針(9)，成像在校準相機(12)上。