[發明專利]監查磁共振斷層造影系統的高頻發送裝置的方法和裝置

有效

• 申請號: 201210056915.5
• 申請日: 2012-03-06
• 公開（公告）號: CN102680929A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: M.格布哈特
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01R33/561
• 分類號: G01R33/561;G01R33/32;A61B5/055
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種在對檢查對象(O)進行磁共振測量時用于監查具有包括多個發送通道(K₁，K₂，...，K_n)的發送天線系統(15)的磁共振斷層造影系統(1)的高頻發送裝置(10)的方法，在該方法中，

-對于多個時刻或時間段確定激勵矢量(U₁，U₂，U₃，U₄，U₅)，所述激勵矢量代表了在單個發送通道(K₁，K₂，...，K_n)上的高頻信號強度，

-按照預先給出的監查規則(KR)分別基于所述激勵矢量(U₁，U₂，U₃，U₄，U₅)確定在檢查對象(O)中吸收的高頻負擔值，并且如果在至少一個高頻負擔值的基礎上的負擔監查值(BKW₁，BKW₂，...，BKW_i，...)達到或超過預先給出的邊界監查值(GK)，則在其功能上限制所述高頻發送裝置(10)，其中，根據所述高頻發送裝置(10)的當前的發送模式(CP)規定所述監查規則(KR)，并且

-基于所述激勵矢量(U₁，U₂，U₃，U₄，U₅)分別檢查所述高頻發送裝置(10)的發送模式(CP)并且在探測到發送模式改變時改變所述監查規則(KR)和/或在其功能上限制所述高頻發送裝置(10)。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述高頻發送裝置(10)的發送模式(CP)規定用于確定高頻負擔值的規則(HLR)和/或用于確定負擔監查值的規則(BLR)和/或邊界監查值(GK)。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，基于所述激勵矢量(U₁，U₂，U₃，U₄，U₅)確定表征發送模式(CP)的模式監查值(MKW₁，MKW₂，...，MKW_i，...)，并且如果所述模式監查值(MKW₁，MKW₂，...，MKW_i，...)以一個確定的度量偏離模式參考值，則探測到發送模式改變。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，在檢查所述發送模式(CP)時，檢查所述高頻發送裝置(10)是否按照體積線圈模式(CP)運行。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述體積線圈模式(CP)包括CP模式(CP)。

6.根據權利要求4或5所述的方法，其特征在于，為了確定所述高頻發送裝置(10)的運行與體積線圈模式(CP)的偏差，通過兩邊乘以投影矩陣(S_proj)來形成各當前的激勵矢量(U₁，U₂，U₃，U₄，U₅)的平方形式，其中，基于在按照體積線圈模式運行的情況下出現的激勵矢量形成所述投影矩陣(S_proj)。

7.根據權利要求3至6中任一項所述的方法，其特征在于，基于多個在模式監查時間段期間所確定的模式監查部分值來形成所述模式監查值(MKW₁，MKW₂，...，MKW_i，...)。