[發明專利]一種校正輻射成像中散射影響的方法及裝置有效
| 申請號: | 201210055815.0 | 申請日: | 2012-03-05 |
| 公開(公告)號: | CN103284734A | 公開(公告)日: | 2013-09-11 |
| 發明(設計)人: | 章健;盧建平;周子剛;常小莎 | 申請(專利權)人: | 上海聯影醫療科技有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 201203 上海市嘉定區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 校正 輻射 成像 散射 影響 方法 裝置 | ||
1.一種校正輻射成像中散射影響的方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:
步驟1、將具有多個不同頻率的輻射束組成的復合輻射束照射成像物體,通過探測器接收到所述成像物體的探測信號;
步驟2、將所述探測信號進行解復用分解處理,根據不同頻率將散射信號從主成像信號中分離出去。
2.如權利要求1所述的校正輻射成像中散射影響的方法,其特征在于,所述輻射源是具有不同頻率的多個獨立的X射線源組成的X射線陣列。
3.如權利要求1所述的校正輻射成像中散射影響的方法,其特征在于,所述輻射源是這樣實現的:將單個X射線源射出的射線經過一定的編碼機制進行編碼調制,產生具有不同的調制信號的多個獨立子輻射束。
4.如權利要求1所述的校正輻射成像中散射影響的方法,其特征在于,所述分離過程在頻率空間完成。
5.一種校正輻射成像中散射影響的裝置,包括輻射源、輻射源前端的準直裝置,以及探測器,其特征在于,所述裝置還包括用于對探測到的圖像信號進行反復用的解復用裝置。
6.如權利要求5所述的校正輻射成像中散射影響的裝置,其特征在于,所述裝置還包括對輻射源進行編碼調制的編碼裝置。
7.如權利要求5所述的校正輻射成像中散射影響的裝置,其特征在于,所述解復用裝置為解碼裝置。
8.如權利要求7所述的校正輻射成像中散射影響的裝置,其特征在于,所述編碼裝置采取百葉窗結構,所述百葉窗結構關閉時統一關閉,打開時以不同頻率打開,以使射線按不同頻率通過。
9.如權利要求7所述的校正輻射成像中散射影響的裝置,其特征在于,所述編碼裝置為帶有多行多列窗口的開關裝置,所述窗口使射線完全透過,所述窗口之外部分阻擋射線透過。
10.如權利要求9所述的校正輻射成像中散射影響的裝置,其特征在于,所述編碼裝置中每行窗口的大小和排列密度不同,以實現調制成不同的頻率。
11.如權利要求10所述的校正輻射成像中散射影響的裝置,其特征在于,所述編碼裝置在調制時沿著垂直于射線方向移動。
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