[發明專利]電能計量芯片電壓影響量自動校正方法及其裝置

有效

• 申請號: 201210055769.4
• 申請日: 2012-03-05
• 公開（公告）號: CN102590782A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 朱昊;陽常回;史元;張明雄
• 申請（專利權）人: 鉅泉光電科技（上海）股份有限公司
• 主分類號: G01R35/04
• 分類號: G01R35/04;G01R19/00
• 代理公司: 上海一平知識產權代理有限公司 31266
• 代理人: 成春榮;竺云

1.一種電能計量芯片電壓影響量自動校正方法，其特征在于，包括以下步驟：

為電能計量芯片加載不同的輸入電壓，分別測量阻性負載和指定輸入電流條件下不同輸入電壓值的電表誤差值，對不同的輸入電壓和對應的電表誤差值直接或間接地進行曲線擬合，得到曲線參數；所述指定輸入電流的強度小于標準輸入電流強度的10％；

測量當前電壓值，根據所述曲線參數計算當前電壓值下的電表誤差值，根據該電表誤差值對測得的有功功率測量值進行校正。

2.根據權利要求1所述的電能計量芯片電壓影響量自動校正方法，其特征在于，所述指定輸入電流的強度為標準輸入電流強度的5％。

3.根據權利要求2所述的電能計量芯片電壓影響量自動校正方法，其特征在于，在所述為電能計量芯片加載不同的輸入電壓，分別測量阻性負載和指定輸入電流條件下不同輸入電壓值的電表誤差值的步驟之前，還包括以下步驟：

在阻性負載下，測量標準輸入電壓和所述指定輸入電流下的電表誤差值，得到基準電表誤差值。

4.根據權利要求3所述的電能計量芯片電壓影響量自動校正方法，其特征在于，在所述對不同的輸入電壓和對應的電表誤差值間接地進行曲線擬合，得到曲線參數的步驟包括以下子步驟：

分別將不同輸入電壓值U(i)與所述標準輸入電壓相比，得到X(i)，其中i的范圍是從1到N，N為不同輸入電壓值的數目；

分別將不同輸入電壓值對應的電表誤差值E?rr(i)與所述基準電表誤差值相比，得到Y(i)；

將Y(i)和X(i)按照公式Y＝a＊X＊X+b＊X+c進行曲線擬合，得到曲線參數a、b和c，其中X(i)作為變量X的實測值，Y(i)作為變量Y的實測值。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的電能計量芯片電壓影響量自動校正方法，其特征在于，在所述為電能計量芯片加載不同的輸入電壓，分別測量阻性負載和指定輸入電流條件下不同輸入電壓值的電表誤差值的步驟中，輸入電壓值在標準輸入電壓的正負20％范圍內。

6.根據權利要求5所述的電能計量芯片電壓影響量自動校正方法，其特征在于，所述測量當前電壓值，根據所述曲線參數計算當前電壓值下的電表誤差值，根據該電表誤差值對測得的有功功率測量值進行校正的步驟周期性執行。

7.根據權利要求5所述的電能計量芯片電壓影響量自動校正方法，其特征在于，所述測量當前電壓值，根據所述曲線參數計算當前電壓值下的電表誤差值，根據該電表誤差值對測得的有功功率測量值進行校正的步驟在電壓變化幅度超過預訂門限時執行。

8.一種電能計量芯片電壓影響量自動校正裝置，其特征在于，包括：

加載單元，用于為電能計量芯片加載不同的輸入電壓；

第一測量單元，用于根據加載單元加載的不同的輸入電壓，分別測量阻性負載和指定輸入電流條件下的電表誤差值；

曲線擬合單元，用于根據加載單元加載的不同的輸入電壓和第一測量單元測得的對應的電表誤差值直接或間接地進行曲線擬合，得到曲線參數；

第二測量單元，用于測量當前電壓值；

計算單元，用于根據曲線擬合單元擬合得到的曲線參數計算在第二測量單元測得的當前電壓值下的電表誤差值；

第三測量單元，用于測量在第二測量單元測得的當前電壓值和指定輸入電流強度下的有功功率；

校正單元，用于根據計算單元計算所得的電表誤差值對第三測量單元測得的有功功率測量值進行校正；

所述指定輸入電流的強度小于標準輸入電流強度的10％。

9.根據權利要求8所述的電能計量芯片電壓影響量自動校正裝置，其特征在于，加載單元加載的不同的輸入電壓值在標準輸入電壓的正負20％范圍內；

所述第一測量單元，還用于在阻性負載下，測量標準輸入電壓和所述指定輸入電流下的電表誤差值，得到基準電表誤差值。

10.根據權利要求8或9所述的電能計量芯片電壓影響量自動校正裝置，其特征在于，所述曲線擬合單元包括以下子單元：

X計算子單元，用于將加載單元加載的不同輸入電壓值U(i)與所述標準輸入電壓相比，得到X(i)；

Y計算子單元，用于將加載單元加載的不同輸入電壓值對應的電表誤差值E?rr(i)與所述基準電表誤差值相比，得到Y(i)；

二次曲線擬合子單元，用于將Y計算子單元計算所得的Y(i)和X計算子單元計算所得的X(i)按照公式Y＝a＊X＊X+b＊X+c進行曲線擬合，得到曲線參數a、b和c，其中X(i)作為變量X的實測值，Y(i)作為變量Y的實測值。