[發明專利]一種LED壽命測試系統及其測試方法

有效

• 申請號: 201210055631.4
• 申請日: 2012-03-05
• 公開（公告）號: CN102590763A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 施朝陽;陳云明;鄧恒波
• 申請（專利權）人: 深圳市邁昂科技有限公司;常州市產品質量監督檢驗所
• 主分類號: G01R31/44
• 分類號: G01R31/44;G01K7/02
• 代理公司: 北京英特普羅知識產權代理有限公司 11015
• 代理人: 齊永紅;郭少晶

1.一種LED壽命測試系統，其特征在于：包括利用溫度箱進行老化的老化子系統、利用積分球進行光色電測量的測量子系統，以及對老化數據和測量數據進行整合分析的分析子系統；其特征在于：所述LED壽命測試系統還包括致冷器和用于焊接多顆待測LED的鋁基板，所述致冷器包括散熱器、電致冷板和安裝盤；所述電致冷板和安裝盤均固定安裝于散熱器上，所述安裝盤的中部具有開口，使電致冷板鑲嵌于所述開口中，并使散熱器位于面向安裝盤底面的一側；所述鋁基板緊貼固定于電致冷板的表面上，并使鋁基板用于焊接LED引腳的一面朝上外露；所述鋁基板具有多個用于連接LED的安裝位，每個安裝位的LED正、負極均與鋁基板上各安裝位一一對應的接線焊點電連接；

所述溫度箱為冷熱雙區溫度箱，所述冷熱雙區溫度箱包括通過隔熱板隔離而成的冷箱和熱箱，所述隔熱板上設置有至少一個貫穿所述隔熱板的用于安裝所述致冷器的溫度箱安裝孔位；所述溫度箱安裝孔位的結構要求滿足：在所述致冷器通過其安裝盤固定安裝于溫度箱安裝孔位上時，使所述散熱器置于冷箱中，并使電致冷板上的鋁基板置于熱箱中；

所述積分球的表面設置有用于安裝所述致冷器的積分球安裝孔位，所述積分球安裝孔位的結構要求滿足：在所述致冷器通過其安裝盤固定安裝于積分球安裝孔位上時，使所述散熱器置于積分球外部，并使電致冷板上的鋁基板置于積分球的內部；以及，

所述老化子系統還包括用于為與鋁基板上的各接線焊點相對應的各LED提供獨立的老化測試用電流源的老化供電單元；所述測量子系統的測量供電單元包括一測量用電流源和使測量用電流源按序或隨機地單獨點亮與鋁基板上的各接線焊點相對應的每顆LED的開關切換電路，以單獨測量與鋁基板上的各接線焊點相對應的每顆LED的光色電參數。

2.根據權利要求1所述的LED壽命測試系統，其特征在于：所述電致冷板與鋁基板之間涂覆有導熱硅脂層。

3.根據權利要求1所述的LED壽命測試用LED固定裝置，其特征在于：所述鋁基板緊貼電致冷板的表面涂覆有絕緣漆層，以保證鋁基板上的任何一處過孔的銅皮均不與電致冷板發生電導通。

4.根據權利要求1所述的LED壽命測試系統，其特征在于：所述安裝盤的底面上具有手持把手。

5.根據權利要求1所述的LED壽命測試系統，其特征在于：所述安裝盤與散熱器之間設置有環繞電致冷板布置的第一密封墊。

6.根據權利要求1所述的LED壽命測試系統，其特征在于：所述電致冷板的輪廓與開口具有相匹配的外形輪廓，使電致冷板恰好鑲嵌于所述開口中。

7.根據權利要求1所述的LED壽命測試系統，其特征在于：所述安裝盤設置有貫穿其頂面與底面的供鋁基板上各接線焊點的引出線從安裝盤的底面穿出的過線孔。

8.根據權利要求1所述的LED壽命測試系統，其特征在于：所述測量供電單元包括分別與鋁基板上各接線焊點的正、負極接線焊點一一對應設置的各正、負極接線端子，各正極、負極接線端子分別均與測量用電源的正極、負極電連接，形成與鋁基板上的各接線焊點一一對應的各供電電路，所述開關切換電路包括一一對應的電連接于各供電電路上的各受控開關。