[發明專利]常溫下液體折射率光電機械檢測儀及其使用方法

無效

• 申請號: 201210040750.2
• 申請日: 2012-02-22
• 公開（公告）號: CN102590140A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 宮愛玲;李鑫
• 申請（專利權）人: 昆明理工大學
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種常溫下液體折射率光電機械檢測儀，其特征在于：檢測儀由電源，半導體激光器，法線桿，樣品池，角度刻度盤????????????????????????????????????????????????，豎直支架，水平支架，水平支架，水平支架，角度刻度盤，PSD光電敏感位置探測器，底座組成；底座通過豎直支架和三個水平支架連接，水平支架，水平支架，水平支架從高到低依次固定，水平支架連接角度刻度盤，水平支架連接角度刻度盤，法線桿分別與兩個角度刻度盤連接，法線桿上端和角度刻度盤的0度重合，法線桿下端與角度刻度盤的0度重合，法線桿與兩個角度刻度盤共面，半導體激光器一端固定在角度刻度盤的0角度頂點處，半導體激光器和角度刻度盤一同轉動，水平支架和樣品池連接，樣品池的法線刻度線與法線桿重合，PSD光電敏感位置探測器一端與其下方的角度刻度盤連接，形成一個連動小桿，其轉動角度平行于折射光線，另一端與其樣品池底部連接，可在樣品池底部左右滑動；PSD光電敏感位置探測器與半導體激光器分別和電源相接。

2.根據權利要求1中所述的常溫下液體折射率光電機械檢測儀，其特征在于：所述的角度刻度盤和角度刻度盤上標有四分之一圓0～90度的刻度，游標盤分度值為“分”單位級，表面防腐蝕的金屬處理。

3.根據權利要求1中所述的常溫下液體折射率光電機械檢測儀，其特征在于：所述的樣品池為長方體透明容器，內表面經過液體防腐蝕處理，容器底部采用超薄材料，樣品池外表面有刻度線、對側有法線標刻線。

4.根據權利要求1中所述的常溫下液體折射率光電機械檢測儀，其特征在于：所述的PSD光電位置探測器片與容器底部尺寸相同。

5.一種常溫下液體折射率光電機械檢測儀的使用方法，其特征在于：所述的常溫下液體折射率光電機械檢測儀可以按照以下步驟進行操作：

第一步：完成各個元件的組裝和固定；

第二步：在樣品池中倒入得測的液體，開啟電源開關，半導體激光器開始工作；

第三步：根據測量者適宜的激光器的偏轉角度，手動轉動半導體激光器所在角度刻度盤的適宜角度，然后固定，半導體激光器打出的激光與法線面所夾的為入射角，記下角度；

第四步：激光射到與法線桿所在的法線面相交的液體表面上，發生折射，根據樣品池底部連接的PSD光電敏感位置探測器，手動調節尋找儀器連接的信號處理器的最強信號；

第五步：在PSD移動時，角度刻度盤也隨著PSD一起轉動，固定后角度刻度盤的主刻度線始終平行與折射率光線，找到最強的信號后鎖定PSD片，同時，鎖定角度刻度盤指針，法線面與半導體激光器折射到被測液體中的激光所夾的角為折射角，讀出角度；

第六步：根據折射率公式n=進行計算，通過計算機或高級科學計算器，確定得測的液體折射率；

第七步：多次測量取折射率的平均值，減少誤差，提高精度。