[發(fā)明專(zhuān)利]閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210030422.4
• 申請(qǐng)日: 2012-02-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102543210A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 錢(qián)亮;孔蔚然;許丹;李冰寒
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G11C29/44
• 分類(lèi)號(hào): G11C29/44
• 代理公司: 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237
• 代理人: 鄭瑋

1.一種閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法，其特征在于包括：

初始測(cè)試步驟，用于使閃存通過(guò)晶圓級(jí)測(cè)試以及封裝級(jí)測(cè)試；

應(yīng)用步驟，用于將閃存應(yīng)用至特定應(yīng)用領(lǐng)域；

第一判斷步驟，用于判斷是否存在擦除動(dòng)作；

其中，當(dāng)?shù)谝慌袛嗖襟E中判斷存在擦除動(dòng)作時(shí)讀取整個(gè)擦除區(qū)域。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法，其特征在于還包括：在讀取整個(gè)擦除區(qū)域之后執(zhí)行第二判斷步驟，用于判斷是否存在讀取失效。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法，其特征在于還包括：當(dāng)?shù)诙袛嗖襟E中判斷存在讀取失效時(shí)執(zhí)行用于判斷是否存在行失效的第三判斷步驟。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法，其特征在于還包括：當(dāng)?shù)谌袛嗖襟E中判斷存在行失效時(shí)執(zhí)行用于判斷冗余扇區(qū)是否失效的第四判斷步驟。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法，其特征在于還包括：當(dāng)?shù)谒呐袛嗖襟E中判斷冗余扇區(qū)失效時(shí)利用冗余扇區(qū)來(lái)進(jìn)行修復(fù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法，其特征在于，其中在利用冗余扇區(qū)來(lái)進(jìn)行修復(fù)之后還進(jìn)行讀取檢測(cè)。