[發明專利]分析裝置、傳感器檢查裝置及檢查方法

有效

• 申請號: 201210023388.8
• 申請日: 2012-02-02
• 公開（公告）號: CN102628832A
• 公開（公告）日: 2012-08-08
• 發明（設計）人: 關本慎二郎
• 申請（專利權）人: 愛科來株式會社
• 主分類號: G01N27/416
• 分類號: G01N27/416
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;黃綸偉

1.一種分析裝置，該分析裝置包括：

傳感器部，該傳感器部包括試劑層、電極和外層膜，所述試劑層包括與樣本液體中的物質反應的試劑，所述電極包括用于向所述試劑層施加電壓的第一電極和第二電極，所述外層膜用于與所述試劑層進行接觸；

電壓施加單元，該電壓施加單元用于在所述第一電極與所述第二電極之間施加第一電壓和第二電壓中的至少一個，所述第一電壓獲取由所述物質引起的響應，所述第二電壓不獲取或基本不獲取由所述物質引起的響應；

電流測量單元，該電流測量單元用于測量在所述第一電極與所述第二電極之間流動的電流；以及

確定單元，該確定單元用于基于第一物理量和第二物理量中的至少一個來確定所述外層膜中是否存在缺陷，所述第一物理量與在施加了所述第一電壓時由所述電流測量單元測量出的第一電流的每特定時間的變化量相關，所述第二物理量與在施加了所述第二電壓時由所述電流測量單元測量出的第二電流的每特定時間的變化量相關。

2.根據權利要求1所述的分析裝置，其中，所述第一物理量是直到所述第一電流的所述每特定時間的變化量達到預定的第一特定范圍中的值為止的第一時間，所述第二物理量是直到所述第二電流的所述每特定時間的變化量達到預定的第二特定范圍中的值為止的第二時間。

3.根據權利要求1所述的分析裝置，該分析裝置還包括校正單元，該校正單元在所述確定單元確定所述外層膜中出現了缺陷時校正由所述電流測量單元測量出的所述電流值，所述校正單元基于所述第一物理量與所述外層膜的缺陷率之間的預定的第一關系和所述第二物理量與所述外層膜的缺陷率之間的預定的第二關系中的至少一個來執行校正。

4.根據權利要求3所述的分析裝置，其中，所述校正單元基于所述第一關系和所述第二關系中的至少一個來估計所述缺陷率，并且基于所述外層膜的所述缺陷率與從下述傳感器部測量出的所述電流值之間的預定關系來校正由所述電流測量單元測量出的所述電流值，其中該傳感器部設置有具有與所述缺陷率相對應的缺陷的外層膜。

5.根據權利要求4所述的分析裝置，其中，當所述校正單元基于所述第一關系和所述第二關系這兩者來估計所述缺陷率時，所述校正單元計算基于所述第一關系估計出的第一缺陷率和基于所述第二關系估計出的第二缺陷率的平均值、最大值或最小值作為所述缺陷率。

6.根據權利要求1所述的分析裝置，該分析裝置還包括輸出單元，該輸出單元在所述確定單元確定所述外層膜中出現了缺陷時輸出表示在所述傳感器部中出現了缺陷的信號。

7.根據權利要求1所述的分析裝置，其中，在施加所述第一電壓和所述第二電壓這兩者時，所述電壓施加單元交替地施加所述第一電壓和所述第二電壓。

8.根據權利要求1所述的分析裝置，其中，所述電流測量單元連續測量在所述第一電極與所述第二電極之間流動的電流，并且所述確定單元按預定定時確定所述外層膜中是否存在缺陷。

9.根據權利要求1所述的分析裝置，其中，在使用所述分析裝置的期間，所述傳感器部被設置在所述分析裝置的用戶的皮膚下，并且所述試劑層與存在于所述皮膚下的待檢成分反應。

10.根據權利要求1所述的分析裝置，其中，所述試劑層從所述待檢成分提取電子，并將所提取的電子提供給所述電極。

11.根據權利要求1所述的分析裝置，其中，所述試劑層包括用于從所述待檢成分提取電子的酶部分。