[發明專利]確定反射系數頻散、反射能量及識別氣層的方法及裝置

有效

• 申請號: 201210020233.9
• 申請日: 2012-01-29
• 公開（公告）號: CN102590863A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 楊志芳;曹宏
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28;G01V1/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯

1.一種反射系數頻散確定方法，其特征在于，包括：

對地震數據進行保幅處理，并提取角道集；

根據地震資料的品質選擇合適角度的角道集；

通過疊前反演方法確定縱波速度、橫波速度和密度；

確定地層縱波品質因子和橫波品質因子；

按如下公式確定反射系數頻散R_f：

R_f＝R(θ，Q，f)＝R(θ)+R(Q_p，f)·sec²θ+R(Q_p，Q_s，f)·sin²θ

其中：

R(θ)＝A+Bsin²θ+Csin²θtg²θ

A=12(ΔVpVp‾+Δρρ‾),]]>B=ΔVp2Vp‾-4Vs2Vp2ΔVsVs‾-2Vs2Vp2Δρρ‾,]]>C=12ΔVpVp‾]]>

ΔVpVp‾=2Vp′-VpVp′+Vp,]]>Δρρ‾=2ρ′-ρρ′+ρ,]]>Vs2Vp2=12(Vs′2Vp′2+Vs2Vp2)]]>

V_p和V′_p分別為地下任意兩層地層的縱波速度，V_s和V′_s分別為地下任意兩層地層的橫波速度，ρ和ρ′分別為地下任意兩層地層的密度，θ為入射角；

R(Qp,f)=12π(1Qp-1Qp′)·ln(ff0)+i·14(1Qp-1Qp′)]]>

R(Qp,Qs,f)=(12B-C)(ff0)2π(1Qs-1Qp)·cos(1Qs-1Qp)+(12B-C)(ff0)2π(1Qs′-1Qp′)·cos(1Qs′-1Qp′)+(C-B)-4Dπ(1Qs-1Qs′)·ln(ff0)]]>

+i·[(12B-C)(ff0)2π(1Qs-1Qp)·sin(1Qs-1Qp)+(12B-C)(ff0)2π(1Qs′-1Qp′)·sin(1Qs′-1Qp′)-2D]]]>

Q_p和Q′_p分別為地下任意兩層地層的縱波品質因子，Q_s和Q′_s分別為地下任意兩層地層的橫波品質因子，f為分析頻率，