[發明專利]具有時域數據共同呈現的測試和測量儀器

有效

• 申請號: 201210018582.7
• 申請日: 2012-01-20
• 公開（公告）號: CN102621365B
• 公開（公告）日: 2017-04-19
• 發明（設計）人: K.P.多比恩斯;K.A.恩格霍姆;A.M.伯格西克;S.C.赫林;G.J.瓦爾多
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G01R13/02
• 分類號: G01R13/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 劉春元,盧江

1.一種測試和測量儀器，包括：

一個或多個輸入端子，用于接收受測電信號；

一個或多個模數轉換器（ADC），用于數字化受測電信號；

數字下變頻器，用于從數字化信號產生IQ基帶分量信息；

存儲器，被配置為存儲IQ基帶分量信息；

用戶接口；以及

控制器，被配置為：

使用所述IQ基帶分量信息生成第一基于IQ的時域波形；以及

通過所述用戶接口在共同軸上呈現所述第一基于IQ的時域波形和與所述第一基于IQ的時域波形不同的形式的第二時域波形。

2.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

使用與所述受測電信號相關聯的所述IQ基帶分量信息來生成所述第二時域波形。

3.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中所述一個或多個輸入端子直接接收所述受測電信號并且在時域中對所述受測電信號進行采樣，其中：

所述第二時域波形基于直接接收并且在時域中被采樣的信號；以及

所述控制器被配置為在所述共同軸上呈現所述第二時域波形與所述第一基于IQ的時域波形。

4.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中所述控制器被配置為將所述第一基于IQ的時域波形生成為頻率對時間波形、相位對時間波形、功率對時間波形以及符號對時間波形中的至少一個。

5.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

所述用戶接口包括水平標度控制；以及

所述控制器還被配置為響應于所述水平標度控制的單個調整在所述共同軸上調整所述第一基于IQ的時域波形的水平標度呈現并且調整所述第二時域波形的水平標度呈現。

6.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

所述用戶接口包括水平位置控制；以及

所述控制器還被配置為響應于所述水平位置控制的單個調整在所述共同軸上調整所述第一基于IQ的時域波形的水平位置呈現并且調整所述第二時域波形的水平位置呈現。

7.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

所述用戶接口包括縮放控制；以及

所述控制器還被配置為響應于所述縮放控制的單個調整在所述共同軸上調整所述第一基于IQ的時域波形的縮放呈現并且調整所述第二時域波形的縮放呈現。

8.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

所述用戶接口包括平移控制；以及

所述控制器還被配置為響應于所述平移控制的單個調整在所述共同軸上調整所述第一基于IQ的時域波形的平移呈現并且調整所述第二時域波形的平移呈現。

9.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

所述用戶接口包括豎直標度控制；以及

所述控制器還被配置為響應于所述豎直標度控制的單個調整在所述共同軸上調整所述第一基于IQ的時域波形的豎直標度呈現并且調整所述第二時域波形的豎直標度呈現。

10.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

所述用戶接口包括豎直位置控制；以及

所述控制器還被配置為響應于所述豎直位置控制的單個調整在所述共同軸上調整所述第一基于IQ的時域波形的豎直位置呈現并且調整所述第二時域波形的豎直位置呈現。

11.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

所述用戶接口包括豎直標度控制；以及

所述控制器還被配置為基本上獨立于任何其他時域波形的豎直標度呈現來響應于所述豎直標度控制在所述共同軸上調整所述第一基于IQ的時域波形和所述第二時域波形中任何單獨一個的豎直標度呈現。

12.根據權利要求1所述的測試和測量儀器，其中：

所述用戶接口包括豎直位置控制；以及

所述控制器還被配置為基本上獨立于任何其他時域波形的豎直位置呈現來響應于所述豎直位置控制在所述共同軸上調整所述第一基于IQ的時域波形和所述第二時域波形中任何單獨一個的豎直位置呈現。

13.根據權利要求12所述的測試和測量儀器，其中所述第一基于IQ的時域波形至少部分地與所述第二時域波形重疊用于視覺比較。