[發明專利]具有金屬硫氧化物窗口層的光伏裝置有效
| 申請號: | 201180056075.6 | 申請日: | 2011-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN103348488A | 公開(公告)日: | 2013-10-09 |
| 發明(設計)人: | 邵銳;馬庫思·格魯克勒爾;本雅明·布勒 | 申請(專利權)人: | 第一太陽能有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0296 | 分類號: | H01L31/0296;H01L31/032;H01L31/072;H01L31/073;H01L31/074;H01L31/0749 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286 | 代理人: | 韓芳;劉奕晴 |
| 地址: | 美國俄亥俄*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 金屬 氧化物 窗口 裝置 | ||
1.一種光伏裝置,所述光伏裝置包括:
基底;
MS1-XOX窗口層,形成在基底上方,其中,M是Zn;以及
吸收層,形成在基底上方。
2.如權利要求1所述的光伏裝置,其中,吸收層是CdTe。
3.如權利要求1所述的光伏裝置,其中,吸收層是CIGS。
4.如權利要求1所述的光伏裝置,其中,吸收層是無定形Si。
5.如權利要求1所述的光伏裝置,其中,MS1-XOX窗口層形成在基底與吸收層之間。
6.如權利要求1所述的光伏裝置,所述光伏裝置還包括設置在MS1-XOX窗口層與吸收層之間的CdS窗口層。
7.如權利要求1所述的光伏裝置,其中,MS1-XOX層相對于吸收層的導帶偏移處于從大約0eV至大約+0.4eV的范圍內。
8.一種光伏裝置,所述光伏裝置包括:
基底;
MS1-XOX窗口層,形成在基底上方,其中,M是Sn;以及
吸收層,形成在基底上方。
9.如權利要求8所述的光伏裝置,其中,吸收層是CdTe。
10.如權利要求8所述的光伏裝置,其中,吸收層是CIGS。
11.如權利要求8所述的光伏裝置,其中,吸收層是無定形Si。
12.如權利要求8所述的光伏裝置,其中,MS1-XOX層相對于吸收層的導帶偏移處于從大約0eV至大約+0.4eV的范圍內。
13.一種光伏裝置,所述光伏裝置包括:
基底;
MS1-XOX窗口層,形成在基底上方,其中,M是In;以及
吸收層,形成在基底上方。
14.如權利要求13所述的光伏裝置,其中,吸收層是CdTe。
15.如權利要求13所述的光伏裝置,其中,吸收層是CIGS。
16.如權利要求13所述的光伏裝置,其中,吸收層是無定形Si。
17.如權利要求13所述的光伏裝置,其中,MS1-XOX層相對于吸收層的導帶偏移處于從大約0eV至大約+0.4eV的范圍內。
18.一種制造光伏裝置的工藝,所述工藝包括:
在基底上方形成MS1-XOX窗口層,其中,M是Zn、Sn和In中的一種;
在基底上方形成吸收層。
19.如權利要求18所述的工藝,其中,通過濺射、蒸發沉積、CVD、化學浴沉積工藝和氣相傳輸沉積工藝中的至少一種來形成MS1-XOX層。
20.如權利要求18所述的工藝,其中,MS1-XOX層相對于吸收層的導帶偏移處于從大約0eV至大約+0.4eV的范圍內。
21.一種光伏裝置,所述光伏裝置包括:
基底;
MS1-XOX窗口層,通過濺射工藝、蒸發沉積工藝、CVD工藝、化學浴沉積工藝和氣相傳輸沉積工藝中的至少一種形成在基底上方,其中,M是由Zn、Sn和In組成的組中的元素;以及
吸收層,形成在基底上,其中,吸收層由CdTe、CIGS和無定形Si中的一種形成。
22.如權利要求21所述的光伏裝置,其中,MS1-XOX窗口層的濺射工藝是DC脈沖濺射、RF濺射和AC濺射中的一種。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





