[發(fā)明專利]生成質(zhì)譜數(shù)據(jù)的方法和設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201180037793.9
• 申請日: 2011-07-28
• 公開（公告）號: CN103053005A
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 安德魯·鮑德勒
• 申請（專利權(quán)）人: 奎托斯分析有限公司
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/40
• 代理公司: 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.使用具有離子源和離子檢測器的質(zhì)譜儀生成質(zhì)譜數(shù)據(jù)的方法，其中，所述方法包括：

在至少一個信號獲得周期中，基于所述離子檢測器的輸出獲得代表樣品材料的離子的質(zhì)量/電荷比率的信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)，在所述至少一個信號獲得周期中，通過所述離子檢測器檢測由所述離子源產(chǎn)生的樣品材料的離子；以及

從所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)減去代表所述質(zhì)譜儀中的噪聲的噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)以產(chǎn)生修改的代表所述樣品材料的離子的質(zhì)量/電荷比率的信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：在至少一個噪聲獲得周期期間，基于所述離子檢測器的輸出獲得代表所述質(zhì)譜儀中的噪聲的所述噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，在所述至少一個噪聲獲得周期中，所述離子檢測器不檢測來自所述離子源的任何離子。

4.根據(jù)權(quán)利要求2或者3所述的方法，其中，在所述至少一個噪聲獲得周期中，所述離子源不產(chǎn)生任何樣品材料的離子，或者所述離子源產(chǎn)生樣品材料的離子但是所述離子源產(chǎn)生的離子被阻止由所述離子檢測器檢測到。

5.根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項所述的方法，其中，所述噪聲獲得周期或每個噪聲獲得周期和所述信號獲得周期或每個信號獲得周期包括以下中的一個或多個：產(chǎn)生一個或更多個高壓脈沖；將一個或更多個高壓脈沖供給到所述質(zhì)譜儀的一個或更多個部件；以及操作所述質(zhì)譜儀的一個或更多個馬達(dá)。

6.根據(jù)權(quán)利要求2至5中任一項所述的方法，其中所述噪聲獲得周期或每個噪聲獲得周期和所述信號獲得周期或每個信號獲得周期優(yōu)選地包括：基于所述離子檢測器的輸出操作用于生成質(zhì)譜數(shù)據(jù)的電子設(shè)備。

7.根據(jù)權(quán)利要求2至6中任一項所述的方法，其中所述噪聲獲得周期或每個噪聲獲得周期與所述信號獲得周期或每個信號獲得周期大致相同，不同之處在于，在所述噪聲獲得周期或每個噪聲獲得周期中，所述離子源不用于產(chǎn)生任何樣品材料的離子，或者所述離子源用來產(chǎn)生樣品材料的離子但是由所述離子源產(chǎn)生的離子不被所述離子檢測器檢測。

8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中從所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)減去的所述噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)是預(yù)存儲的噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)或者是基于預(yù)存儲的噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)，所述預(yù)存儲的噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)在獲得所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)之前被儲存。

9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中在多個所述信號獲得周期期間基于所述離子檢測器的輸出獲得所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)，和/或在多個所述噪聲獲得周期期間基于所述離子檢測器的輸出獲得所述噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)。

10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中所述方法包括：在多個段中獲得所述噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)，每個段的噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)代表在各自的質(zhì)量/電荷比率范圍上的所述質(zhì)譜儀中的噪聲并且在至少一個各自的噪聲獲得周期期間基于所述離子檢測器的輸出獲得。

11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，進(jìn)一步包括：從所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)減去所述多個段的噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生修改的代表所述樣品材料的離子的質(zhì)量/電荷比率的信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)。

12.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中在所述質(zhì)譜儀的連續(xù)的周期中執(zhí)行多個信號獲得周期和多個噪聲獲得周期，其中所述連續(xù)的周期之間的時間差為1秒或更小，更優(yōu)選地為100毫秒或更小，更優(yōu)選地為10毫秒或更小，更優(yōu)選地為1毫秒或更小，更優(yōu)選地為100微秒或更小。

13.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，多個信號獲得周期與多個噪聲獲得周期交錯。

14.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，所述方法包括：根據(jù)用以獲得所述數(shù)據(jù)的獲得周期的數(shù)量縮放所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)和/或所述噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)。

15.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中所述方法包括：在與用于分析信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)的處理單元連接的預(yù)處理單元中從所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)減去所述噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)。

16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中所述方法包括：在所述預(yù)處理單元中獲得所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)和/或所述噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)。

17.根據(jù)權(quán)利要求15或者16所述的方法，其中所述方法包括：將所述信號質(zhì)譜數(shù)據(jù)存儲在所述預(yù)處理單元中的第一存儲器中，以及將所述噪聲質(zhì)譜數(shù)據(jù)存儲在所述預(yù)處理單元中的第二存儲器中。