[實(shí)用新型]光纖光柵應(yīng)變傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201120563863.1 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202403676U | 公開(公告)日: | 2012-08-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王鴻鵬;趙恩國;汪毅;陳藝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中船重工遠(yuǎn)舟(北京)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/16 | 分類號(hào): | G01B11/16 |
| 代理公司: | 北京捷誠信通專利事務(wù)所(普通合伙) 11221 | 代理人: | 王衛(wèi)東 |
| 地址: | 102000 北京市昌平*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光纖 光柵 應(yīng)變 傳感器 校準(zhǔn) 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及光纖光柵應(yīng)變傳感器,具體涉及光纖光柵應(yīng)變傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
光纖光柵傳感器(Fiber?Bragg?Grating?Sensor)是一種新型光纖傳感器,利用光敏光纖光纖光柵反射中心波長的改變反映周圍環(huán)境參數(shù)的變化,可以測量應(yīng)變、溫度、壓力、位移、加速度等多種物理量,由于光纖光柵傳感器具有抗電磁干擾、耐腐蝕、體積小、重量輕,幾何形狀可塑、傳輸容量大(可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)分布式測量)以及測量范圍廣等優(yōu)點(diǎn),因此,廣泛應(yīng)用于航空航天、土木工程、復(fù)合材料、石油化工等領(lǐng)域。其中,光纖光柵應(yīng)變傳感器是在工程領(lǐng)域中應(yīng)用最廣泛,技術(shù)最成熟的光纖傳感器。
光纖光柵應(yīng)變傳感器在使用前必須經(jīng)過校準(zhǔn),以確保其測量精度。目前采用的方法是靜態(tài)測量校準(zhǔn),即利用電阻應(yīng)變片進(jìn)行對(duì)比測量,具體做法是:通過將光纖光柵應(yīng)變傳感器安裝在粘貼有電阻應(yīng)變片的拉伸試件上,采用電阻應(yīng)變儀和光纖光柵解調(diào)儀分別同時(shí)測量拉伸試件的應(yīng)變量,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)光纖光柵應(yīng)變傳感器的校準(zhǔn)。但是,由于電阻應(yīng)變片存在測量精度不高、電阻蠕變和零漂現(xiàn)象嚴(yán)重等問題,采用電阻應(yīng)變片這種校準(zhǔn)方法存在校準(zhǔn)精度不高、長期穩(wěn)定性差等缺點(diǎn),已經(jīng)不滿足光纖光柵應(yīng)變傳感器校準(zhǔn)的需求。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是解決利用電阻應(yīng)變片對(duì)光纖光柵應(yīng)變傳感器進(jìn)行校準(zhǔn),存在校準(zhǔn)精度不高、長期穩(wěn)定性差的問題。
為了解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是提供一種光纖光柵應(yīng)變傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng),包括安裝光纖光柵應(yīng)變傳感器的拉伸試件以及拉伸實(shí)驗(yàn)機(jī)和處理單元,還包括一個(gè)光纖光柵解調(diào)儀和若干個(gè)納米光柵尺,所述拉伸試件裝夾在所述拉伸實(shí)驗(yàn)機(jī)上,所述納米光柵尺實(shí)時(shí)將所述拉伸試件的形變數(shù)據(jù)傳輸至所述處理單元,所述光纖光柵解調(diào)儀實(shí)時(shí)將光纖光柵應(yīng)變傳感器的波長數(shù)據(jù)傳輸至所述處理單元,所述處理單元根據(jù)拉伸試件的形變數(shù)據(jù)以及光纖光柵應(yīng)變傳感器的波長變化量之間的線性關(guān)聯(lián)關(guān)系獲得光纖光柵應(yīng)變傳感器的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
在上述方案中,所述納米光柵尺為四個(gè),分別對(duì)稱地設(shè)置在所述拉伸試件的兩側(cè),且測量方向相同。
本實(shí)用新型,使用精度更高的納米光柵尺獲得拉伸試件的形變數(shù)據(jù),處理單元根據(jù)拉伸試件的形變數(shù)據(jù)以及光纖光柵應(yīng)變傳感器的波長變化量之間的線性關(guān)聯(lián)關(guān)系獲得光纖光柵應(yīng)變傳感器的校準(zhǔn)數(shù)據(jù),提高了應(yīng)變光纖光柵傳感器的校準(zhǔn)精度。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖;
圖2為本實(shí)用新型中的光纖光柵應(yīng)變傳感器以及納米光柵尺的布置圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作出詳細(xì)的說明。
如圖1、圖2所示,本實(shí)用新型提供的光纖光柵應(yīng)變傳感器校準(zhǔn)系統(tǒng),包括拉伸實(shí)驗(yàn)機(jī)1、拉伸試件2、若干個(gè)納米光柵尺3、光纖光柵解調(diào)儀5和處理單元6,拉伸試驗(yàn)機(jī)1選用SANS-10KN型拉伸試驗(yàn)機(jī),納米光柵尺3選擇德國海德漢公司的MT1271,光纖光柵解調(diào)儀5選擇QSA-01。
光纖光柵應(yīng)變傳感器4安裝在拉伸試件2上,拉伸試驗(yàn)機(jī)1通過上、下夾具將拉伸試件2的上、下兩個(gè)端部21、22夾住,下夾具不動(dòng),上夾具按照試驗(yàn)設(shè)定的程序?qū)煸嚰?進(jìn)行拉伸。四個(gè)納米光柵尺3固定在兩個(gè)基座上面,每個(gè)基座固定兩個(gè)納米光柵尺,用于分別測量四個(gè)測量點(diǎn)31、32、33、34在拉伸試件2受拉伸情況下產(chǎn)生的拉力方向形變數(shù)據(jù)。四個(gè)納米光柵尺3分別對(duì)稱地設(shè)置在拉伸試件2的兩側(cè),并且四個(gè)納米光柵尺3的測量方向一致。
拉伸試驗(yàn)機(jī)1按照設(shè)定的拉伸程序開始對(duì)拉伸試件2進(jìn)行拉伸作業(yè),四個(gè)納米光柵尺3實(shí)時(shí)地將拉伸試件2的形變數(shù)據(jù)上傳給處理單元6(PC電腦),與此同時(shí),拉伸試件2產(chǎn)生的應(yīng)變也改變了光纖光柵應(yīng)變傳感器4的中心波長,光纖光柵解調(diào)儀5讀取光纖光柵應(yīng)變傳感器4的波長數(shù)據(jù)并其上傳至處理單元6(PC電腦),處理單元6(PC電腦)接收到四個(gè)納米光柵尺3獲得的拉伸試件2的形變數(shù)據(jù)以及光纖光柵解調(diào)儀5獲得的光纖光柵應(yīng)變傳感器4的波長數(shù)據(jù)之后,進(jìn)行存儲(chǔ)、實(shí)時(shí)顯示和數(shù)據(jù)分析。由于光纖光柵傳感器的波長變化量與所測物體表面微應(yīng)變成線性關(guān)系,因此處理單元6可以根據(jù)拉伸試件2的形變以及光纖光柵應(yīng)變傳感器4的應(yīng)變之間的線性關(guān)聯(lián)關(guān)系獲得光纖光柵應(yīng)變傳感器的校準(zhǔn)數(shù)據(jù),對(duì)光纖光柵應(yīng)變傳感器進(jìn)行校準(zhǔn)。
由于本實(shí)用新型采用了精度更高的納米光柵尺來獲得拉伸試件的形變,因此,大大提高了光纖光柵應(yīng)變傳感器的校準(zhǔn)精度。
本實(shí)用新型不局限于上述最佳實(shí)施方式,任何人應(yīng)該得知在本實(shí)用新型的啟示下作出的結(jié)構(gòu)變化,凡是與本實(shí)用新型具有相同或相近的技術(shù)方案,均落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
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