[實用新型]光學膜片光學性能測試臺

有效

• 申請號: 201120299230.4
• 申請日: 2011-08-17
• 公開（公告）號: CN202216828U
• 公開（公告）日: 2012-05-09
• 發明（設計）人: 董興華;范衛星;趙勝平
• 申請（專利權）人: 奧普鍍膜技術（廣州）有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州市南鋒專利事務所有限公司 44228
• 代理人: 劉媖

技術領域

本實用新型涉及一種用于檢測光學膜片的光學性能的裝置。

背景技術

目前，隨著光纖通訊技術的不斷發展和普及使用，其中WDM（波分復用）技術相關的器件設備及其核心膜片（芯片）已經開始大量進入光纖敷設的骨干網絡和城域網絡，WDM膜片的生產使用量越來越大，生產企業對高效、準確的測試WDM膜片光學性能提出了迫切要求。一般測試WDM反射光譜使用雙光纖準直器，一光纖作為入射光，另一光纖接收反射光。由于使用雙光纖，不能保證反射光完全沿入射光路返回，所以測試的反射光譜曲線不夠準確；另外，在WDM膜片反射光譜測試中，需要保證WDM膜片下表面與入射光路徑盡量垂直，越接近90度，反射光譜的測試結果越準確，由于雙光纖不容易保證垂直，所以測試反射光譜曲線重復性不好，測試結果不夠準確。

實用新型內容

本實用新型的目的在于避免現有技術中的不足而提供一種能保證反射光完全沿入射光路返回，容易保證垂直，重復性更好、測試的光學曲線更準確的光學膜片光學性能測試臺。

本實用新型的目的通過以下技術方案實現：?

光學膜片光學性能測試臺，包括膜片載物臺，膜片載物臺上設有可放置待測膜片的小孔，在所述的膜片載物臺的下方設有對準小孔的單光纖準直器，單光纖準直器的下方設有耦合器，耦合器的下部接有光源和光譜測試分析設備。

所述的單光纖準直器裝設在準直器調節架上。

由于采用了上述的結構，使用時WDM膜片放置在小孔上，光從光源發出，通過光纖，進入耦合器，再從耦合器發出，進入單光纖準直器，從單光纖準直器發出，通過膜片載物臺上的小孔，入射到WDM膜片的下表面，產生反射光；反射光沿入射光路返回，入射到單光纖準直器，從單光纖準直器出來進入耦合器，耦合器接收到的反射光接入光譜測試分析設備，即可對膜片進行反射光譜分析。

本實用新型具有下述的有益效果：

（1）通過把雙光纖準直器更改為單光纖準直器，入射光和反射光均通過同一光纖，保證了反射光完全沿入射光路返回，所以測試的反射光譜曲線更準確；

（2）在WDM膜片反射光譜測試中，需要保證WDM膜片下表面與入射光路徑盡量垂直，越接近90度，反射光譜的測試結果越準確；本發明中通過把雙光纖改為單光纖，在調節保證入射光路與WDM膜片下表面垂直的過程中，更容易保證垂直，所以測試反射光譜曲線重復性更好。

附圖說明

利用附圖對本實用新型作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本實用新型的任何限制，對于本領域的普通技術人員，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據以下附圖獲得其它的附圖。

圖１是光學膜片光學性能測試臺的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步詳細的描述。

如圖1所示，本實用新型所述的光學膜片光學性能測試臺，包括膜片載物臺1，膜片載物臺1上設有可放置待測膜片的小孔2，在所述的膜片載物臺1的下方設有對準小孔2的單光纖準直器3，所述的單光纖準直器3裝設在準直器調節架7上，準直器調節架7可為三維調節架，用以調節單光纖準直器3的位置。所述的單光纖準直器3的下方設有耦合器4，耦合器4用于分離入射光和反射光。耦合器4的下部接有光源5和光譜測試分析設備6。

本實用新型使用時，WDM膜片放置在小孔2上，光從光源5發出，通過光纖，進入耦合器4，再從耦合器2發出，進入單光纖準直器3，從單光纖準直器3發出，通過膜片載物臺1上的小孔2，入射到WDM膜片的下表面，產生反射光；反射光沿入射光路返回，入射到單光纖準直器3，從單光纖準直器3出來進入耦合器4，耦合器4接收到的反射光接入光譜測試分析設備6，即可對膜片進行反射光譜分析。

總之，本實用新型雖然例舉了上述優選實施方式，但是應該說明，雖然本領域的技術人員可以進行各種變化和改型，除非這樣的變化和改型偏離了本實用新型的范圍，否則都應該包括在本實用新型的保護范圍內。