[發明專利]一種用于集成電路測試系統的多通道自動轉換裝置

在審

• 申請號: 202211545926.X
• 申請日: 2022-12-05
• 公開（公告）號: CN115980397A
• 公開（公告）日: 2023-04-18
• 發明（設計）人: 丁超;張明虎
• 申請（專利權）人: 中國船舶集團有限公司第七〇九研究所
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R35/00;G01R1/20;G01R1/18
• 代理公司: 武漢華之喻知識產權代理有限公司 42267
• 代理人: 劉婭婷;張彩錦

1.一種用于集成電路測試系統的多通道自動切換裝置，其特征在于，包括上下相對間隔設置的通道切換控制板和數據轉換板，所述通道切換控制板和數據轉換板間固定裝載有多個磁動力機構，每個磁動力機構對應集成電路測試系統的一個數字通道；

其中，所述磁動力機構包括磁屏蔽殼體及滑動設置在磁屏蔽殼體內的電磁屏蔽板，所述電磁屏蔽板將殼體分成上下兩個腔室，上腔室的上端部設有電磁鐵，電磁鐵的一端與通道切換控制板的控制端相連，電磁鐵的另一端接地，電磁屏蔽板的下方固定設有絕緣棒，電磁屏蔽板的上方固定設有永磁體；所述數據轉換板上對應的磁動力機構處均設置兩個觸點A和B，觸點B正對集成電路測試系統的一個數字通道且保持接觸，觸點A與一金屬彈簧片的一端相連，金屬彈簧片的另一端翹起，并與其所在的磁動力機構中的絕緣棒接觸，數據轉換板上的所有觸點A均與其上的數據傳輸接口相連，該數據傳輸接口與集成電路測試系統校準裝置相連。

2.根據權利要求1所述的用于集成電路測試系統的多通道自動切換裝置，其特征在于，各磁動力機構中的絕緣棒對應其所對應的數據轉換板上的觸點B在豎直方向上錯開一段距離。

3.根據權利要求1所述的用于集成電路測試系統的多通道自動切換裝置，其特征在于，所述通道切換控制板與外部控制器相連。

4.根據權利要求3所述的用于集成電路測試系統的多通道自動切換裝置，其特征在于，所述控制器采用STM32芯片或FPGA芯片。

5.根據權利要求1所述的用于集成電路測試系統的多通道自動切換裝置，其特征在于，所述磁屏蔽殼體采用桶狀結構。

6.一種基于權利要求1～5任意一項所述的用于集成電路測試系統的多通道自動切換裝置的多通道切換方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)根據集成電路測試系統中數字通道個數，配置磁動力機構的數量；將所有磁動力機構與集成電路測試系統中的所有數字通道一一對應；

(2)通過通道切換控制板，向指定數字通道對應的磁動力機構中的電磁鐵一端施加高電平，使電磁鐵對永磁體產生排斥力，帶動絕緣棒下移，按壓金屬彈簧片，接通指定磁動力機構對應的數據轉換板上的兩個觸點，從而將該指定數字通道的信號引出至集成電路測試系統校準裝置；當信號引出完成后，通過通道切換控制板對指定數字通道對應的磁動力機構中的電磁鐵的一端施加低電平，使電磁鐵對永磁體產生吸引力，帶動絕緣棒上移，使金屬彈簧片恢復原形狀，斷開指定磁動力機構對應的數據轉換板上的兩個觸點，以此實現對集成電路測試系統中多個數字通道的切換控制。

7.一種用于集成電路測試系統的多通道校準系統，其特征在于，包括集成電路測試系統校準裝置和權利要求1～5任意一項所述的用于集成電路測試系統的多通道自動切換裝置。