[實用新型]平面度檢測裝置的轉動平臺

有效

• 申請號: 201120182034.9
• 申請日: 2011-06-01
• 公開（公告）號: CN202092616U
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發明（設計）人: 蔡云飛;戴方興;徐全明;丁林先;薛文斌;顧慶揚
• 申請（專利權）人: 普萊默電子（無錫）有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30;B07C5/34
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所 32104
• 代理人: 曹祖良

技術領域

本實用新型涉及電子元器件的檢測設備，具體地說是一種用于電子元器件表面貼裝焊盤的平面度檢測裝置的轉動平臺。

背景技術

為了實現電子產品（例如三維RFID（射頻識別）電感元器件）的小型化，電子元器件的線路板都采用表面貼裝技術，在進行元器件表面貼裝時，元器件表面貼裝焊盤的平面度是影響焊接質量的關鍵因素，所以對元器件進行表面貼裝焊盤的平面度檢測是必要的。目前，大部分廠家對表面貼裝焊盤平面度檢測都是通過手工完成的。手工檢測速度慢，并且會出現漏檢的情況，可靠性較低。

發明內容

本實用新型針對上述問題，提供一種平面度檢測裝置的轉動平臺，該平臺可裝載旋轉被測產品并提供檢測光源，使用該平臺的平面度檢測裝置效率高、可靠性高。

按照本實用新型提供的技術方案，一種平面度檢測裝置的轉動平臺，包括順序連接的轉動氣缸、連接座、光源座及平臺，所述平臺上設置有容納所述被測產品的凹槽，所述凹槽的底部設置有與所述光源座的光源孔相通過的透光孔。

所述轉動平臺固定在機架上且位于暗箱的中部，所述轉動平臺的前方固定有攝取并傳送所述被測產品圖像的視覺系統，所述轉動平臺的上方設置有實現所述被測產品自動上料和卸料的機械手，所述轉動平臺的一側設置有穿出所述暗箱的上料輸送帶，其另一側依次設置有卸不良品導槽及穿出所述暗箱的卸良品輸送帶，所述視覺系統、所述機械手、所述轉動平臺、所述上料輸送帶及所述卸良品輸送帶分別與工控機電連接，所述工控機分析處理所述視覺系統傳送的圖像，并且控制所述機械手、所述轉動平臺、所述上料輸送帶及所述卸良品輸送帶分別動作。

所述卸不良品導槽的出料端與卸不良品輸送帶相連，所述卸不良品輸送帶穿出所述暗箱并且與所述工控機電連接。

所述卸不良品導槽與所述上料輸送帶平行設置。

本實用新型可裝載旋轉被測產品并提供檢測光源，使用本實用新型的平面度檢測裝置通過人工視覺系統搭配全自動上料卸料系統實現電子元器件表面貼裝焊盤的平面度檢測，可以完全取代手工，速度快，可靠性高，節約大量人力和物力。

附圖說明

圖1為使用本實用新型的平面度檢測裝置的整體結構示意圖。

圖2為圖1中拆除暗箱后的立體結構示意圖。

圖3為圖1中的機械手的立體示意圖。

圖4為本實用新型的立體示意圖。

圖5為本實用新型的立體分解示意圖。

圖6為圖1中的視覺系統的立體示意圖。

圖7為被測產品的立體示意圖。

具體實施方式

圖1~圖7中，包括工控機1、暗箱2、上料輸送帶3、卸不良品輸送帶4、卸良品輸送帶5、機械手6、第一吸料手61、吸料手連接板62、第二吸料手63、橫向氣缸64、安裝支架65、縱向氣缸66、轉動平臺7、轉動氣缸71、連接座72、光源座73、光源孔731、平臺74、透光孔741、凹槽742、被測產品75、焊盤751、卸不良品導槽8、視覺系統9、視頻顯微物鏡91、物鏡固定支架92、調焦旋鈕93、調焦橫向移動平臺94、視覺系統固定支架95、機架10等。

如圖1、圖2所示，是一種電子元器件表面貼裝焊盤的平面度檢測裝置，在機架10上固定有暗箱2，暗箱2的作用是給視覺系統9提供一個黑暗的工作環境。暗箱2內設置有可裝載旋轉被測產品75并提供光源的轉動平臺7、攝取并傳送被測產品75圖像的視覺系統9以及實現被測產品75自動上料和卸料的機械手6。

轉動平臺7固定在機架10上且位于暗箱2的中部，轉動平臺7的前方固定有視覺系統9，轉動平臺7的上方設置有機械手6，轉動平臺7的一側設置有穿出暗箱2的上料輸送帶3，其另一側依次設置有卸不良品導槽8及穿出暗箱2的卸良品輸送帶5；視覺系統9、機械手6、轉動平臺7、上料輸送帶3及卸良品輸送帶5分別與工控機1電連接。工控機1為現有技術，包括分析計算的軟件。工控機1分析處理視覺系統9傳送的圖像，并且控制機械手6、轉動平臺7、上料輸送帶3及卸良品輸送帶5分別動作。

卸不良品導槽8的出料端與卸不良品輸送帶4相連，卸不良品輸送帶4穿出暗箱2并且與工控機1電連接。卸不良品導槽8與上料輸送帶3平行設置。

如圖4、圖5所示，轉動平臺7包括順序連接的轉動氣缸71、連接座72、光源座73及平臺74。光源座73通過連接座72與轉動氣缸71連接成一體，平臺74安裝在光源座73上。平臺74上設置有容納被測產品75的凹槽742，凹槽742的底部設置有與光源座73的光源孔731相通的透光孔741。光源座73提供平面度檢測所需的光源。