[發(fā)明專利]基于卷曲型銅布線的芯片級(jí)三維柔性封裝結(jié)構(gòu)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110458784.9 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102569231A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘開(kāi)林;李鵬;黃鵬;任國(guó)濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 桂林電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L23/485 | 分類號(hào): | H01L23/485;H01L23/00 |
| 代理公司: | 桂林市華杰專利商標(biāo)事務(wù)所有限責(zé)任公司 45112 | 代理人: | 劉梅芳 |
| 地址: | 541004 廣西*** | 國(guó)省代碼: | 廣西;45 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 卷曲 布線 芯片級(jí) 三維 柔性 封裝 結(jié)構(gòu) | ||
1.一種基于卷曲型銅布線的芯片級(jí)三維柔性封裝結(jié)構(gòu),包括設(shè)有鈍化層(2)的硅芯片(1)、銅接線柱(10)、再分布銅布線(4)、凸點(diǎn)下金屬層(6)、焊料凸點(diǎn)(7)和阻焊層(8),硅芯片焊盤區(qū)域(11)與銅接線柱(10)連接,所述凸點(diǎn)下金屬層(6)設(shè)置在再分布銅布線(4)上并通過(guò)再分布銅布線(4)與銅接線柱(10)相連接,焊料凸點(diǎn)(7)設(shè)置在凸點(diǎn)下金屬層(6)上,其特征在于:所述鈍化層(2)上設(shè)有柔性層(3),再分布銅布線(4)設(shè)置在柔性層(3)的表面上,再分布銅布線(4)與凸點(diǎn)下金屬層(6)連接的一端設(shè)置為具有微彈簧效果的卷曲形狀(5),凸點(diǎn)下金屬層(6)旁邊的柔性層(3)上設(shè)有通孔(12),焊料凸點(diǎn)(7)正下方的鈍化層(2)中設(shè)有空氣隙(9)。
2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于卷曲型銅布線的芯片級(jí)三維柔性封裝結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的通孔(12)為兩個(gè),形狀呈扇面形,兩個(gè)通孔以凸點(diǎn)下金屬層(6)為圓心對(duì)稱排列。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于卷曲型銅布線的芯片級(jí)三維柔性封裝結(jié)構(gòu),其特征在于:所述空氣隙(9)為圓桶形狀。
4.?根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的一種基于卷曲型銅布線的芯片級(jí)三維柔性封裝結(jié)構(gòu),其特征在于:所述扇面形外緣的半徑與空氣隙(9)的半徑相等。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于卷曲型銅布線的芯片級(jí)三維柔性封裝結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的柔性層(3)為聚酰亞胺。
6.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于卷曲型銅布線的芯片級(jí)三維柔性封裝結(jié)構(gòu),其特征在于:所述阻焊層(8)設(shè)置在柔性層(3)和再分布銅布線(4)的表面上。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于桂林電子科技大學(xué),未經(jīng)桂林電子科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110458784.9/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。





