[發明專利]一種電子設備及測量距離的方法

有效

• 申請號: 201110445119.6
• 申請日: 2011-12-27
• 公開（公告）號: CN103185567A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發明（設計）人: 李眾慶;薛蘇葵;趙焱;陳興文;呂暉
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G01C3/00
• 分類號: G01C3/00
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種電子設備，其特征在于，包括：

光線發射器，用于投射一光線；

攝像頭，與所述光線發射器位于所述電子設備的同一側，且所述攝像頭與所述光線發射器平行設置，所述攝像頭相對于一支撐面的高度大于所述光線發射器相對于所述支撐面的高度，其中，當所述電子設備位于所述支撐面上時，所述光線發射器與所述支撐面平行，所述攝像頭與所述支撐面平行；所述攝像頭獲得一圖像，所述圖像包括阻擋所述光線傳播的障礙物以及所述光線在障礙物上形成的光斑，其中所述障礙物位于所述支撐面上；

存儲器，用于存儲一定標距離和一距離算法，所述定標距離為所述攝像頭的視野邊際的光路與所述支撐面的交點至所述攝像頭的垂直于所述支撐面的垂直中心線之間的距離；

分析器，用于分析所述圖像，并獲得第一參數和第二參數，其中，所述第一參數為所述光斑的成像至所述攝像頭的平行于所述支撐面的平行中心線的距離，所述第二參數為所述交點的成像至所述平行中心線的距離；以及

計算單元，連接于所述存儲器和所述分析器，根據所述第一參數、所述定標距離和所述第二參數，按照所述距離算法計算所述電子設備和所述障礙物之間的距離。

2.如權利要求1所述的電子設備，其特征在于，所述電子設備還包括：移動裝置，所述電子設備通過所述移動裝置在所述支撐面上移動。

3.如權利要求2所述的電子設備，其特征在于，所述電子設備還包括：控制單元，用于判斷所述距離是否小于一閾值，如果是，則控制所述電子設備的移動以避免碰到所述障礙物。

4.如權利要求1所述的電子設備，其特征在于，所述存儲器還存儲所述電子設備和所述障礙物之間的距離，用于構建地圖。

5.如權利要求1所述的電子設備，其特征在于，所述距離算法為所述定標距離乘以所述第二參數并除以所述第一參數。

6.如權利要求1所述的電子設備，其特征在于，所述分析器還分析所述圖像以獲得所述障礙物的拐角的相對位置參數。

7.如權利要求6所述的電子設備，其特征在于，所述相對位置參數為所述拐角的成像至所述平行中心線的距離。

8.如權利要求7所述的電子設備，其特征在于，當所述拐角的成像至所述平行中心線的距離越小，則所述電子設備與所述拐角之間的距離越遠。

9.一種測量距離的方法，應用一電子設備中，所述電子設備包括一光線發射器、一攝像頭和一存儲器，所述光線發射器與所述攝像頭位于所述電子設備的同一側，所述光線發射器與所述攝像頭平行設置，所述攝像頭相對于一支撐面的高度大于所述光線發射器相對于所述支撐面的高度，所述存儲器存儲有距離算法和一定標距離，其中，當所述電子設備位于所述支撐面上時，所述定標距離為所述攝像頭的視野邊際的光路與所述支撐面的交點至所述攝像頭的垂直于所述支撐面的垂直中心線之間的距離，且所述光線發射器與所述支撐面平行，所述攝像頭與所述支撐面平行，其特征在于，所述方法包括：

通過所述光線發射器投射一光線；

通過所述攝像頭獲得一圖像，所述圖像包括阻擋所述光線傳播的障礙物以及所述光線在障礙物上形成的光斑，其中所述障礙物位于所述支撐面上；

分析所述圖像，獲得第一參數和第二參數；其中，所述第一參數為所述光斑的成像至所述攝像頭的平行于所述支撐面的平行中心線的距離，所述第二參數為所述交點的成像至所述平行中心線的距離；

從所述存儲器獲得所述定標距離和所述距離算法；以及

根據所述第一參數、所述第二參數和所述定標距離，按照所述距離算法，確定所述電子設備與所述障礙物之間的距離。

10.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

接收一移動指令；

根據所述移動指令，所述電子設備在所述支撐面上移動。

11.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

判斷所述電子設備與所述障礙物之間的距離是否小于一閾值；

如果是，則控制所述電子設備在所述支撐面上移動以避免碰到所述障礙物。

12.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述距離算法為所述定標距離乘以所述第二參數并除以所述第一參數。

13.如權利要求9所述的方法，其特征在于，還分析所述圖像以獲得所述障礙物的拐角的相對位置參數。