[發(fā)明專利]用于氨基酸檢測(cè)的酪氨酸根/LRH復(fù)合體及其合成方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110444937.4 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102565421A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬淑蘭;谷慶陽(yáng);孫亞紅;楚楠?jiǎng)P;梁藉;何剛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京師范大學(xué);北京師大科技園科技發(fā)展有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01N33/68 | 分類號(hào): | G01N33/68;G01N23/20;G01N21/35;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏曉波;逯長(zhǎng)明 |
| 地址: | 100875 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 氨基酸 檢測(cè) 酪氨酸 lrh 復(fù)合體 及其 合成 方法 | ||
1.一種酪氨酸根/LRH復(fù)合體,其特征在于,使用銅對(duì)陰極X射線衍射儀測(cè)定得到X射線衍射圖,晶面間距d與布拉格2θ角的關(guān)系為:
經(jīng)紅外光譜儀檢測(cè),其紅外光譜中波數(shù)與吸收峰的對(duì)照關(guān)系為:
2.權(quán)利要求1所述的酪氨酸根/LRH復(fù)合體的合成方法,其特征在于,包括以下步驟:
a)將EuCl3·6H2O、GdCl3·6H2O、NaCl、和HMT溶于水中,通入N2后進(jìn)行水熱反應(yīng),反應(yīng)結(jié)束后將生成物過濾、洗滌、干燥,得到(Gd0.95Eu0.05)2(OH)0.5Cl·nH2O;
b)向酪氨酸中加入NaOH,制得酪氨酸的鈉鹽溶液,將(Gd0.95Eu0.05)2(OH)0.5Cl·nH2O分散于水中,再加入所述酪氨酸的鈉鹽溶液,進(jìn)行水熱反應(yīng),反應(yīng)結(jié)束后將生成物過濾、洗滌、干燥,所述酪氨酸的摩爾數(shù)為所述(Gd0.95Eu0.05)2(OH)0.5Cl·nH2O摩爾數(shù)的3倍。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的合成方法,其特征在于,所述a)中EuCl3·6H2O、GdCl3·6H2O、NaCl和HMT的摩爾比為(0.05~1)∶(0.95~1.9)∶(13~26)∶(1~2)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的合成方法,其特征在于,所述a)中將EuCl3·6H2O、GdCl3·6H2O、NaCl和HMT溶于排氣水中,所述排氣水的量為1500mL~1800mL/1mmol?EuCl3·6H2O。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的合成方法,其特征在于,所述a)中通入N2的時(shí)間為20min~40min。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的合成方法,其特征在于,所述a)中水熱反應(yīng)的溫度為70℃~100℃,反應(yīng)時(shí)間為12h~18h。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京師范大學(xué);北京師大科技園科技發(fā)展有限責(zé)任公司,未經(jīng)北京師范大學(xué);北京師大科技園科技發(fā)展有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110444937.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





