[發(fā)明專利]一種方法和用于執(zhí)行該方法的觸摸檢測裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110426635.4
• 申請日: 2011-12-19
• 公開（公告）號(hào): CN102609154A
• 公開（公告）日: 2012-07-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 約珥·C·肯特
• 申請（專利權(quán)）人: 泰科電子公司
• 主分類號(hào): G06F3/043
• 分類號(hào): G06F3/043
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 孫紀(jì)泉

1.一種用于減少在物體中傳播的彎曲波的檢測信號(hào)中的噪聲的方法，包括下述步驟：

a)接收表示所述物體的多個(gè)位置的檢測信號(hào)，以及

b)將滿足彎曲波傳播特性的函數(shù)與所述檢測信號(hào)擬合，從而降低不滿足彎曲波傳播特性的噪聲對檢測信號(hào)的影響。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述物體是厚度小于彎曲波波長的均勻板，并且步驟b)包括將滿足亥姆霍茲方程的函數(shù)與所述檢測信號(hào)擬合。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中步驟b)中使用的所述函數(shù)為貝塞爾函數(shù)或貝塞爾函數(shù)的高達(dá)n階的展開式。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中擬合函數(shù)還滿足下述彎曲波頻散關(guān)系，

k=ω[12(1-υ2)ρEh2]1/4]]>

其中ω為在所述物體中傳播的彎曲波的角頻率，E，υ和ρ分別表示所述物體的彈性模量、泊松比和密度，并且h為所述物體的厚度。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中擬合函數(shù)還包括彎曲波衰減成分。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中基于對應(yīng)于所述物體上的給定位置的所述檢測信號(hào)和已經(jīng)為其接收到檢測信號(hào)的鄰近的位置的預(yù)定數(shù)量，為所述給定位置執(zhí)行擬合。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中從柵格的節(jié)點(diǎn)位置接收所述檢測信號(hào)，并且對于每個(gè)位置，為子?xùn)鸥?，特別是3×3、5×5或7×7子?xùn)鸥駡?zhí)行擬合步驟，所述子?xùn)鸥竦闹行臑闉槠鋱?zhí)行擬合的位置。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，包括：

采用位于所述物體上的第一換能器位置的換能器，特別是壓電換能器在所述物體中提供彎曲波的步驟c1)，其中

步驟a)包括檢測所述物體上的與第一位置不同的位置處的信號(hào)，并且其中檢測信號(hào)表示至少一個(gè)第二位置處的彎曲波參數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中步驟a)包括采用振動(dòng)計(jì)，特別是非接觸式激光干涉儀或原子力顯微鏡檢測所述信號(hào)。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中重復(fù)步驟c1)、a)和b)，用于提供具有位于預(yù)定頻率范圍內(nèi)的不同頻率的多個(gè)彎曲波，并為所述彎曲波中的每一個(gè)檢測信號(hào)。

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中步驟c1包括將具有角頻率ω的連續(xù)振蕩電壓提供至所述換能器。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，包括：

在所述物體的位置處提供預(yù)定觸摸活動(dòng)的步驟c2)，并且

步驟a)包括采用位于所述物體的與所述物體的所述多個(gè)位置不同的第一位置處的換能器，特別是壓電換能器檢測所述信號(hào)。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中在進(jìn)行步驟b)之前，針對所述物體的多個(gè)位置重復(fù)步驟c2)和a)。

14.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中所述換能器定位在所述物體的感興趣的區(qū)域的外側(cè)，特別是定位在所述物體的觸敏交互作用表面的外側(cè)。

15.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，還包括在步驟b)之后，由擬合的值代替所述檢測信號(hào)的步驟d)，以及針對所述物體的已經(jīng)在步驟b)中相對于第一換能器位置為其建立擬合值的每個(gè)位置確定聲傳遞函數(shù)的步驟e)。

16.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，包括針對放置在所述物體的不同位置處的多個(gè)換能器重復(fù)步驟c1)或c2)以及步驟a)和步驟b)。