[發(fā)明專利]基于高光譜的復合絕緣子老化運行狀態(tài)檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110422865.3
• 申請日: 2011-12-15
• 公開（公告）號: CN102520323A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 邵瑰瑋;付晶;蔡煥青;王文龍
• 申請（專利權(quán)）人: 國網(wǎng)電力科學研究院
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01N21/25
• 代理公司: 武漢帥丞知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42220
• 代理人: 朱必武;周瑾

1.一種基于高光譜的復合絕緣子老化運行狀態(tài)檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)用高光譜成像儀對復合絕緣子成像，獲取復合絕緣子的高光譜影像；

2)影像預處理：對復合絕緣子的影像進行預處理，包括幾何校正、濾波去噪、輻射校正，以獲得較為精確的光譜信息；

3)選取訓練樣本：其步驟包括確定狀態(tài)數(shù)、選取每種狀態(tài)的樣區(qū)、取均值，得到每種狀態(tài)的均值樣本；

4)建立復合絕緣子老化模型：首先量化老化程度，接著提取光譜特征，然后建立復合絕緣子老化模型；

5)解算老化模型參數(shù)：采用最小二乘法解算老化模型的參數(shù)；

6)用老化模型判斷復合絕緣子的老化程度：從高光譜影像上提取一串復合絕緣子的全部區(qū)域，確定復合絕緣子的像素區(qū)域，然后用老化模型逐個判斷區(qū)域內(nèi)像素的老化系數(shù)，對區(qū)域內(nèi)所有像素的老化程度取均值，即可得到復合絕緣子的老化程度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于高光譜的復合絕緣子老化運行狀態(tài)檢測方法，其特征在于，步驟4)中將全新、良好、潛在粉化、粉化、完全老化五種狀態(tài)復合絕緣子的老化指數(shù)分別量化為0，0.2，0.5，0.8，1。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于高光譜的復合絕緣子老化運行狀態(tài)檢測方法，其特征在于，步驟4)中假設(shè)復合絕緣子老化與各波段值的變化呈線性關(guān)系，建立的老化模型如下式：

a₀+a₁*(P₁-P₀)+a₂*(P₂-P₀)+...+a_n*(P_n-P₀)＝L

其中：P_{1、2、。。。、n}為某狀態(tài)復合絕緣子在第n個特征波段處的反射率；

P₀是全新的復合絕緣子在相應波段處的反射率；

a₀、a₁、a₂、...、a_n為復合絕緣子老化模型待求解的系數(shù)；

L為某狀態(tài)復合絕緣子對應老化系數(shù)。