[發明專利]溫度保護開關的壽命測試方法

無效

• 申請號: 201110421353.5
• 申請日: 2011-12-15
• 公開（公告）號: CN103163455A
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發明（設計）人: 周明杰;王永清
• 申請（專利權）人: 海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明工程有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

【技術領域】

本發明涉及開關壽命測試方法，尤其涉及一種溫度保護開關的壽命測試方法。

【背景技術】

溫度保護開關作為一種電子元器件的保護神，其發展越來越迅速，運用的場合越來越廣泛。溫度保護開關一般采用雙金屬片作為感溫組件的溫控器，電子元器件正常工作時，雙金屬片處于自由狀態，觸點處于閉合狀態，當溫度達到動作溫度時，雙金屬片受熱產生內應力而迅速動作，打開觸點，切斷電路，從而起到控溫作用。當電子元器件冷卻到復位溫度時，觸點自動閉合，恢復正常工作狀態。

隨著溫度保護開關的廣泛應用，在短時間內篩選出合格的溫度保護開關對產品的快速投入市場顯得尤其重要。溫度保護開關的使用壽命是衡量其質量的重要指標，但是傳統的溫度保護開關的壽命測試方法是在運用于電子元器件正常使用狀態下進行長期壽命測試，直至溫度保護開關壽命終結；正常溫度保護開關的使用次數可達到上萬次，這樣測試效率低下，增長了產品的研發周期，而且浪費大量的人力物力。

【發明內容】

基于此，有必要提供一種測試簡單、效率高的溫度保護開關的壽命測試方法。

一種溫度保護開關的壽命測試方法，包括以下步驟：

將溫度保護開關與電子元器件串聯，溫度保護開關貼附在電子元器件上面；

將所述串聯電子元器件的溫度保護開關置于溫度箱內，通額定的電流并記錄溫度保護開關正常工作斷開總次數所用的時間T及溫度保護開關斷開額定次數n所用的時間t；其中所述溫度箱內的測試溫度設為溫度保護開關斷開次數最多的溫度；

根據公式N＝n*T/t計算溫度保護開關的壽命，其中，N為溫度保護開關正常工作斷開的總次數，T為溫度保護開關正常工作斷開總次數所用的時間，t為溫度保護開關斷開額定次數n所用的時間。

優選地，所述當溫度保護開關正常工作斷開的總次數為1000時，對溫度保護開關進行功能檢查。

優選地，所述電子元器件的阻值為30Ω。

優選地，所述溫度保護開關與電子元器件串聯置于溫度箱后，在電子元器件兩端通10A的額定電流。

優選地，所述方法還包括：

所述溫度箱內的溫度以額定值遞增，并在每個溫度點駐留；

記錄每個溫度點溫度保護開關斷開次數；

選擇溫度保護開關斷開次數最多的溫度點為測試溫度點。

優選地，所述溫度箱內的溫度由20℃開始，以10℃的額定值遞增，并在每個溫度點駐留60min。

優選地，所述方法還包括計算溫度保護開關單次斷開電路所用的時間。

優選地，所述計算溫度保護開關單次斷開電路所用的時間的步驟為：

將所述溫度保護開關與電子元器件串聯后置于溫度箱內，通額定電流；

記錄溫度保護開關斷開電路額定次數n所用的時間t；

根據公式t₁＝n/t計算溫度保護開關單次斷開電路所用的時間t₁。

優選地，所述溫度保護開關失效前的功能檢查正常總時間為溫度保護開關正常工作時間。

優選地，所述電子元器件為水泥電阻。

上述溫度保護開關的壽命測試方法，在保持溫度保護開關失效機理不變的條件下，通過將電子元器件置于溫度保護開關斷開次數最多的溫度下，能夠快速實現電子元器件溫度變化來控制溫度保護開關閉合，達到提高其工作頻率的方法來加速失效發現其潛在的缺陷，并根據合理的計算方法推斷出其使用壽命，能夠在短時間內快速獲得溫度保護開關的使用壽命。

【附圖說明】

圖1為溫度保護開關的壽命測試方法流程圖。

【具體實施方式】

如圖1所示，為一種溫度保護開關的壽命測試方法的流程圖，包括以下步驟：

步驟S110，將溫度保護開關與電子元器件串聯，溫度保護開關貼附在電子元器件上面。

在本實施例中，在溫度保護開關與電子元器件貼附的同時緊密相連，這樣能夠讓溫度開關更有效的監控電子元器件的溫度。

在本實施例中，電子元器件在導電情況下能夠快速發熱。優選地，電子元器件為水泥電阻。電子元器件一般選擇阻值較大的，導熱性能較好的，這樣能夠在快速發熱的同時將溫度傳遞給溫度保護開關，增強溫度保護開關的壽命測試電路的靈敏性。優選地，電子元器件的阻值為30Ω。

步驟S120，將所述串聯電子元器件的溫度保護開關置于溫度箱內，通額定的電流并記錄溫度保護開關正常工作斷開總次數所用的時間T及溫度保護開關斷開額定次數n所用的時間t；其中所述溫度箱內的測試溫度設為溫度保護開關斷開次數最多的溫度。