[發明專利]一種元器件自動計數統計方法和裝置

有效

• 申請號: 201110418587.4
• 申請日: 2011-12-15
• 公開（公告）號: CN102521648A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發明（設計）人: 王加朋;李世偉;魏建強;張玉國;孫紅勝;張虎
• 申請（專利權）人: 北京振興計量測試研究所
• 主分類號: G06M11/00
• 分類號: G06M11/00;G06K9/46;G06K9/54
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種元器件自動計數統計方法，包括以下步驟：

步驟1：將元器件平鋪在可透光的元器件托盤上，以均勻光源照射托盤，在另一側設置圖像采集裝置，采集以光源為背景的元器件分布圖像，將圖像存儲為圖像1。

步驟2：對圖像1進行閉運算，結果存為圖像2。

步驟3：對圖像2進行二值化，結果存為圖像3。

步驟4：對圖像3進行開運算，結果存為圖像4。

步驟5：對圖像4進行放大，細化圖像，結果存為圖像5。

步驟6：提取圖像5邊緣，存為圖像6，計算圖像6中閉合區域內像素在一定范圍的閉合區域的數量，該范圍由當前元器件在圖像中成像的大小決定。

步驟7：重復步驟4-步驟6，直至目標統計數量趨于穩定。取穩定值做為圖像1的目標統計結果。

步驟8：振動托盤，改變元器件在托盤上的分布，重復步驟1-步驟7，取數次目標統計結果的最大值作為統計的最終結果。

2.一種如權利要求1所述的元器件自動計數統計方法，其特征在于，所述步驟6的計算方法為將圖像中的閉合輪廓與計算機存儲的元器件標準輪廓進行比對，計算形狀吻合的輪廓數量。

3.一種如權利要求1或2所述的元器件自動計數統計方法，其特征在于，所述步驟8的重復次數設為3-7次。

4.一種用于元器件自動計數統計的裝置，其特征在于，包括陣列探測器件(1)、光學成像系統(2)、元器件托盤(3)、振動機構(4)、照明光源(5)、圖像顯示和數據處理系統(8)，其中所述照明光源(5)安裝在元器件托盤(3)的下方，元器件托盤(3)的底板采用具有漫投射功能的材料制成，形成均勻照明背景；元器件托盤(3)與振動機構(4)連接；光學成像系統(2)設置在將元器件受到光源照射的陰影成像到陣列探測器件上(1)，陣列探測器件(1)將捕獲到的圖像傳輸至圖像顯示和數據處理系統(8)，由數據處理系統(8)統計出捕獲到的標準投影圖像數量，輸出統計結果。

5.如權利要求4所述的元器件自動計數統計裝置，其特征在于，所述照明光源(5)采用LED陣列。

6.如權利要求4或5所述的元器件自動計數統計裝置，其特征在于，所述照明光源(5)配有散熱風扇。