[發明專利]光學觸控裝置與觸控影像處理方法無效
| 申請號: | 201110413494.2 | 申請日: | 2011-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN103135855A | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發明(設計)人: | 陳裕彥;魏守德;張洵豪;蘇上欽 | 申請(專利權)人: | 緯創資通股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/042 | 分類號: | G06F3/042;G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 史新宏 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 裝置 影像 處理 方法 | ||
1.一種適用于不同尺寸的觸控顯示單元的光學觸控裝置,其包含有:
至少一光源,其設置于一觸控顯示單元的外側,該至少一光源用來發射光線,藉以照明于該觸控顯示單元上的一座標檢測區的一物體;
一第一取像模塊,其安裝于該觸控顯示單元的一角落,該第一取像模塊用來擷取該物體的影像數據;
一第二取像模塊,其安裝于該觸控顯示單元的另一角落,該第二取像模塊用來擷取該物體的影像數據,其中該第一取像模塊與該第二取像模塊的相對位置可被調整;以及
一控制模塊,其耦合于該第一取像模塊與該第二取像模塊,該控制模塊用來依據該第一取像模塊與該第二取像模塊所擷取該物體的影像數據以及該第一取像模塊與該第二取像模塊的相對位置,計算該物體于該座標檢測區的一座標值。
2.如權利要求1所述的光學觸控裝置,其還包含一測距模塊,其耦合于該控制模塊且用來檢測該第一取像模塊與該第二取像模塊的一距離值,該控制模塊用來依據該第一取像模塊與該第二取像模塊所擷取該物體的影像數據以及該測距模塊所檢測該第一取像模塊與該第二取像模塊的該距離值,計算該物體于該座標檢測區的該座標值。
3.如權利要求2所述的光學觸控裝置,其中該控制模塊還用來依據該第一取像模塊與該第二取像模塊的連線以及該第一取像模塊與該物體的連線所形成的一第一夾角、該第一取像模塊與該第二取像模塊的連線以及該第二取像模塊與該物體的連線所形成的一第二夾角,以及該測距模塊所檢測該第一取像模塊與該第二取像模塊的該距離值,計算該物體于該座標檢測區的該座標值。
4.如權利要求3所述的光學觸控裝置,其中該物體于該座標檢測區的一第一方向座標值為(該第一取像模塊與該第二取像模塊的該距離值)*(tan(該第二夾角))/(tan(該第一夾角)+tan(該第二夾角)),且該物體于該座標檢測區的一第二方向座標值為(該第一方向座標值)*(tan(該第一夾角)。
5.如權利要求2所述的光學觸控裝置,其中該控制模塊還用來依據該第一取像模塊與該第二取像模塊的該距離值、該第一取像模塊與該第二取像模塊的一最大距離值、該第一取像模塊與該第二取像模塊的一最小距離值、該第一取像模塊與該第二取像模塊于該最大距離值時所需的一最大光源強度值與該第一取像模塊與該第二取像模塊于該最小距離值時所需的一最小光源強度值,決定該至少一光源所發射光線的一強度值。
6.如權利要求5所述的光學觸控裝置,其中該至少一光源所發射光線的該強度值為(該最小光源強度值)+[((該第一取像模塊與該第二取像模塊的該距離值)-(該最小距離值))*(該最大光源強度值-該最小光源強度值)/(該最大距離值-該最小距離值)]。
7.如權利要求2所述的光學觸控裝置,其中該測距模塊為一電子卷尺,其兩端分別連接于該第一取像模塊與該第二取像模塊。
8.如權利要求2所述的光學觸控裝置,其中該測距模塊為一光學測距儀。
9.一種光學觸控系統,其包含有:
一觸控顯示單元,其上形成有一座標檢測區;以及
一光學觸控裝置,其結合于該觸控顯示單元,該光學觸控裝置包含有:
至少一光源,其設置于該觸控顯示單元的外側,該至少一光源用來發射光線,藉以照明于該座標檢測區的一物體;
一第一取像模塊,其安裝于該觸控顯示單元的一角落,該第一取像模塊用來擷取該物體的影像數據;
一第二取像模塊,其安裝于該觸控顯示單元的另一角落,該第二取像模塊用來擷取該物體的影像數據,其中該第一取像模塊與該第二取像模塊的相對位置可被調整;以及
一控制模塊,其耦合于該第一取像模塊與該第二取像模塊,該控制模塊用來依據該第一取像模塊與該第二取像模塊所擷取該物體的影像數據以及該第一取像模塊與該第二取像模塊的相對位置,計算該物體于該座標檢測區的一座標值。
10.如權利要求9所述的光學觸控系統,其中該光學觸控裝置還包含一測距模塊,其耦合于該控制模塊且用來檢測該第一取像模塊與該第二取像模塊的一距離值,該控制模塊用來依據該第一取像模塊與該第二取像模塊所擷取該物體的影像數據以及該測距模塊所檢測該第一取像模塊與該第二取像模塊的該距離值,計算該物體于該座標檢測區的該座標值。
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